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技术文章
TECHNICAL ARTICLES
更新时间：2025-02-17
点击次数：153
新世代的大范围计量工具
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
解决方案
大面积3D光学测量系统
先进制造业
考古学与古生物学
消费类电子产品
医疗设备
模塑
光学
钟表业
关键特性
整个拼接扩展区域都拥有亚微米高度重复性。
无需Z轴扫描即可测量最高40mm的单次测量高度。
具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量。
与3D CAD模型的形状偏差 提供几何差异和公差测量
可追溯性
表面纹理测量仪器的校准
我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。
