ZEM20的成像模式与应用探索​

泽攸ZEM20台式扫描电镜虽结构紧凑，但其成像功能却较为全面，能够通过不同的物理信号获取样品信息，从而满足多元化的分析需求。理解其成像模式是充分发挥其性能的关键。

二次电子（SE）成像是观察样品表面形貌的主要方式。ZEM20的二次电子探测器对样品表面微观起伏非常敏感。当电子束扫描样品时，激发的二次电子数量会随样品表面的倾斜角度而变化，从而在图像上形成明暗对比，呈现出丰富的立体感。这种模式非常适合观察材料的断口结构、表面镀层、纤维形态、磨损痕迹等，是材料科学和失效分析中常用的手段。

背散射电子（BSE）成像则提供了另一种重要的信息——成分对比。背散射电子的产额与样品元素的原子序数成正比，原子序数越大的区域，产生的信号越强，在图像上就越亮。ZEM20配备的BSE探测器能有效区分由不同元素构成的相。这使得它可用于鉴别合金中的不同相组成、观察矿石中的矿物分布、检查焊接界面的材料扩散，或识别集成电路中的不同材料。

低真空模式是ZEM20的一个实用特性。在此模式下，样品室内充入少量气体（如空气或水蒸气）。这些气体分子可以中和照射在不导电样品表面积累的电荷，从而避免“荷电效应"导致的图像扭曲、漂移和过亮。这意味着用户可以直接观察如塑料、纸张、生物样品、陶瓷、绝缘涂层等，无需预先喷涂导电膜，不仅保护了样品原始状态，也极大地节省了制样时间和成本。

使用说明：在操作中，用户应根据样品特性灵活选择模式。对于导电良好的金属、半导体样品，优先使用高真空SE模式以获得高分辨率图像。对于混合材料需要成分区分时，切换至BSE模式。而对于绝大多数绝缘体，则应启用低真空模式，并可根据样品调节腔室压力至最佳状态，以获得无荷电干扰的清晰图像。

应用实例：在地质学中，利用BSE模式可轻松分辨出矿石中不同原子序数的矿物。在高分子材料研究中，低真空SE模式可直接观察塑料断口的韧性撕裂特征。在电子产品质检中，无需制样即可检查PCB板上的焊点是否存在裂纹或污染。