黑白影像中的材料密码：泽攸科技如何用扫描电镜揭示微观真相

更新时间：2026-04-02

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在微观尺度上，材料向我们展示的不是绚丽色彩，而是一幅幅富含信息的黑白图像。泽攸科技的扫描电镜技术，正是解读这些黑白密码的关键工具，让材料的成分、结构与演变过程一目了然。

泽攸科技ZEM系列扫描电镜：

双信号采集，信息更丰富

泽攸科技的ZEM系列扫描电镜系统支持二次电子（SE）与背散射电子（BSE）信号同时采集，并能按任意比例混合成像，实现形貌与成分信息的wan美融合。

通过SE信号，可以清晰观察材料的表面形貌和微观结构；而BSE信号则能揭示材料的成分差异，高原子序数区域呈现更亮灰度。这种双模式成像能力，让研究者在一张图像中同时获取材料的物理形貌和化学信息。

从灰度到真相：

泽攸科技如何解读材料密码

在钙钛矿太阳能电池的研究中，泽攸科技扫描电镜通过BSE模式清晰展示了材料的层状结构，不同灰度区域对应不同材料成分，为器件性能优化提供了直观依据。

钙钛矿太阳能电池的SE和BSE模式下的对比图

对于硫磺样品，SE图像突出表面形貌细节，而BSE图像则显示成分均匀性，两种信号的对比分析为材料质量控制提供了全面信息。

硫磺的SE和BSE模式下的对比图

泽攸科技原位技术：

从静态到动态的观察革命

传统SEM提供的是材料在某一时刻的静态快照，而泽攸科技的原位SEM技术则将时间维度引入观察中，让研究者能够亲眼目睹材料在外部条件下的实时演变。

泽攸科技纳米力学台案例图：展示纳米力台在拉伸、压缩和微球压碎过程中的应用

泽攸科技开发了完整的原位附件生态系统，包括：

泽攸科ji部分原位SEM产品

前沿研究中的泽攸科技解决方案

金属玻璃剪切带行为研究

利用泽攸科技原位SEM，研究者对金属玻璃进行了不同拉伸加载阶段的实时观察，清晰记录了剪切带的形成、扩展与阻挡过程。

利用泽攸科技原位SEM对金属玻璃在不同拉伸加载阶段的图像观察，显示剪切带的阻挡情况

弹性体材料压缩行为分析

对弹性体光刻胶进行原位压缩测试，泽攸科技系统能够记录材料在不同压缩阶段的微观结构变化。

利用泽攸科技原位SEM对弹性体光刻胶进行原位压缩测试

Ti65合金高温力学性能研究

通过泽攸科技原位系统，研究者对比了Ti65合金在室温与高温下的拉伸行为，不仅观察了断裂表面的形貌差异，还捕捉到了晶粒间滑移传递的动态过程。

利用泽攸科技原位SEM对Ti65合金进行拉伸测试：(a) 室温拉伸测试的断裂表面；(b) 高温拉伸测试的断裂表面

更深入的研究还揭示了Ti65合金在室温（a-c）和高温（d-f）拉伸测试过程中，两组选定晶粒之间的滑移传递行为差异。

Ti65合金在室温（a-c）和高温（d-f）拉伸测试过程中两组选定晶粒之间的滑移传递行为

技术优势：

稳定性与多功能性的wan美结合

泽攸科技在原位附件设计中特别注重成像稳定性与加载条件的协同控制。通过减少样品转移环节，确保实验条件的一致性，提供可靠、可重复的实验数据。

泽攸科技TEC冷台案例图

结语：泽攸科技，让微观世界更清晰

从支持双信号采集的ZEM系列扫描电镜，到完整的原位附件生态系统，泽攸科技为材料科学研究提供了从静态观察到动态分析的全套解决方案。无论是基础材料表征，还是前沿的动态过程研究，泽攸科技的技术都能帮助研究者更深入、更全面地理解材料行为。

在微观世界的探索道路上，泽攸科技以其创新的技术和稳定的性能，正成为越来越多研究者的shou选合作伙伴，让材料的每一个微观细节都变得清晰可见。