ContourX-100 3D光学轮廓仪：把实验室装进桌面

流线型桌面式的ContourX系列，配备先进白光干涉模块、快速自动聚焦和自动亮度调节、手动样品台及倾斜控制。

具备最高性价比的 ContourX-100 3D光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。 该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉（WLI）创新技术，具有二维/三维高分辨测量能力。 新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 3D光学轮廓仪堪称台式系统。

Z向分辨率：提供不受放大率影响的一致的精准测量。

计量值：简化设计，不影响测量功能。

软件界面：提供对大量预编程过滤器和分析程序的直接调用。

特点

计量能力

ContourX-100 3D光学轮廓仪是布鲁克 40 多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新的结晶。 该系统利用三维 WLI 和二维成像技术，一次采集可执行多次分析。 ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情况下都能发挥稳定性能。

价值和分析

ContourX-100 3D光学轮廓仪台式可执行数千种自定义分析，并采用布鲁克的 VisionXpress 和 Vision64 用户界面，提升了实验室和工厂的生产效率。 软硬件的结合，实现简便操作下的高效率光学性能。

应用

具有特定应用的解决方案

精密工程

保持精密工程零件的表面纹理和几何尺寸在严格的规格范围内。我们的具备仪表能力的测量系统，在您监控、跟踪和评估流程以及评估GD&T合规性时，提供高效的反馈和报告。

MEMS与传感器

进行高通量、高度重复性的蚀刻深度、薄膜厚度、步高和表面粗糙度测量，以及MEMS和光学MEMS的高级临界尺寸测量。光学剖面可以在整个晶圆到最终测试的制造过程中进行表征，甚至通过透明包装进行表征。

骨科/眼科

在整个产品生命周期内，获得植入材料和组件的精确、可重复测量数据。我们的WLI光学剖面仪支持研发、质量保证和质量控制分析，应用范围涵盖镜片和注塑模具表面参数的表征，以及医疗设备的表面光洁验证和磨损。

摩擦学

测量、分析并控制摩擦、磨损、润滑和腐蚀对材料/部件性能和寿命的影响。确定定量磨损参数，并对广泛的光滑、光滑或粗糙表面进行快速通过/不合格检查。

半导体

通过自动化、非接触式晶圆级计量系统，提高前后端制造工艺的良率并降低成本。进行CMP后芯片平整度检查;凸起高度、共面性及缺陷识别与分析;并测量组成结构的关键尺寸。

光学

更好地理解缺陷的根本原因，并通过准确且可重复的亚纳米粗糙度测量优化抛光和精加工工艺。我们的非接触式计量系统能够满足日益严格的标准和ISO规范，适用于从小型非球面和自由形态光学元件，到复杂几何形状的光学元件，再到衍射光栅和微透镜等样品。