使用成像共聚焦显微镜对增材制造表面形貌的稳健测量

作者： 纳奇斯维拉尔 ， 罗杰阿蒂加斯 ，森索法技术， S . L .（西班牙）；马蒂 Duocastella ，大学。德巴塞罗那（西班牙）；吉列姆·卡莱斯·桑塔卡纳，森索法尔技术公司（西班牙）

2023年6月27日·北京时间10点50分至11点10分|国际会议中心14c室

Narcis Vilar的论文介绍了一种用于测量增材制造（AM）零件表面纹理的优化光学系统。该系统具有宽视场和高数值孔径，可应对表面不规则性和反射率变化带来的挑战。将市售目镜与定制设计的管状镜头集成可实现放大率和适用于AM零件特征的有效数值口径。 该系统采用共焦式HiLo技术，并成功地表征了金属AM部件。还讨论了提高性能潜力的显微镜物镜的设计。此外，使用高动态范围（HDR）的方法，结合多个低动态范围图像，使重建一个单一的地形图，以解决反射率的变化。总体而言，本文证实了这种光学系统，其广泛的空间特征覆盖范围和HDR能力，提供了一个多功能的解决方案，适用于各种科学和工业方面。

光学轮廓术中扫描非线性的计算自校正  

作者： 莱娜朱科娃 ， 罗杰阿蒂加斯 ，吉勒姆卡莱斯桑塔卡纳，Sensofar-Tech， S . L .（西班牙）

2023年6月27日· 12：30 - 12：50欧洲中部时间|ICM房间14 c

另一方面， Lena Zhukova 的论文重点关注一种减少使用电动线性平台进行扫描的光学轮廓仪中非线性的计算方法。 通过分析由已知位移分离的两个地形图（可从单次扫描中提取），该算法预测并消除定位系统误差，显著提高测量精度。这种的解决方案为解决电动线性载物台中的非线性问题提供了一种实用而有效的方法，扩大了光学轮廓测量在各个行业和研究领域的适用性。

SPIE 光学计量学以展示光子学及相关技术的前沿进展而闻名，为 维拉尔 和 朱可娃 提供了一个理想的平台，与全球科学界分享他们的前沿研究。Sendix赞扬他们的杰出贡献，并期待他们的工作将对计量领域产生深远影响 。 .