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PRODUCTS CNTER奥林巴斯BX53M反射明暗场金相显微镜金相显微系统通过反射明暗场双模式照明、半复消色差物镜组及高分辨率数字成像的协同设计,满足了对材料微观结构高精度、高通量分析的需求。尤其在图像融合(EDF)与大视野拼接技术上表现出色,为科研与工业质检提供了可靠的技术平台。未来可进一步探索偏振、荧光模块的集成潜力。
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奥林巴斯BX53M反射明暗场金相显微镜
奥林巴斯BX53M是一款高性能正置式金相显微镜系统,专为材料科学、冶金学和工业检测领域的精密观察与分析设计。其核心优势在于集成了反射明暗场照明技术和优质半复消色差物镜,结合现代数字成像与测量能力,为微观结构研究提供了强大的技术平台。
一、 核心光学系统与照明技术
反射光路架构:
系统基于 BX53MRF-S 反射镜体 构建,为反射光观察提供稳固的光学基础。
BX3M-LEDR LED反射光源 提供高亮度、长寿命且稳定的冷光源照明,有效减少样品热损伤,满足长时间观察需求。
BX3M-RLA-S 反射光路照明器 是该系统的核心模块,同时支持明场(Brightfield, BF)和暗场(Darkfield, DF)照明模式。明场照明提供常规的透射或反射光成像,清晰展现样品表面形态和色彩;暗场照明则利用斜射光原理,突出样品边缘、划痕、孔隙、析出物等表面微小细节的散射光,显著提高对比度,揭示明场下难以观察的精细结构。
高性能物镜:半复消色差(Semi-Apochromat)平场物镜系列
系统配置了 MPLFLN BD 系列平场半复消色差物镜,专为反射明暗场观察优化(BD = Brightfield/Darkfield)。该系列物镜显著提升了光学性能:
色差校正优异: 半复消色差设计意味着比普通消色差物镜对更多波长的色差进行了高度校正,尤其在可见光谱范围内(如蓝、绿、红光),显著减少色晕,提供更真实、锐利的彩色图像和更高对比度的单色图像。
场曲校正: 平场设计确保整个视场范围内的图像清晰度一致,消除了边缘模糊现象,特别有利于大视野观察和精准的图像拼接。
覆盖常用倍率: 提供 5X, 10X, 20X, 50X 四个核心倍率,满足从低倍普查到高倍细节观察的需求:
MPLFLN 5XBD: NA=0.15, WD=12mm - 提供大视野和长工作距离,便于样品操作。
MPLFLN 10XBD: NA=0.30, WD=6.5mm - 常用倍率,平衡视野和分辨率。
MPLFLN 20XBD: NA=0.45, WD=3mm - 高分辨率倍率,细节观察主力。
MPLFLN 50XBD: NA=0.80, WD=1mm - 高数值孔径,提供顶尖分辨率,用于观察细的微观结构。
所有物镜均兼容明场和暗场照明模式。
观察与光路管理:
U-TR30-2 三目观察筒 允许同时进行目镜观察和相机成像,方便实时记录。
WHN10X-H / WHN10X 超宽视野目镜 提供舒适、宽阔的目视观察体验。
U-D5BDRE 高性能五孔物镜转盘 专为反射光应用设计,支持同时安装多达五个物镜(兼容 BF/DF/DIC 物镜),并在明场、暗场及可能的未来扩展(如微分干涉相衬 DIC)模式间实现快速、平稳切换,保证光路对准精度。
二、 精密机械平台
载物台系统:
U-SVRM 右手控制机械载物台 提供精确、平稳的 X-Y 方向移动,方便对样品不同区域进行定位和扫描。其符合人体工学的右手控制设计提高了操作效率。
U-MSSP 载物台板 为样品提供稳定支撑平台。
三、 高分辨率数字成像与智能分析
成像接口:
U-TV1XC C型接口 配备 1X 中继透镜,将显微镜的光学图像无损地传递到相机传感器,确保成像视野与目镜观察一致,无额外放大或缩小,便于测量标定。
科学级数码相机:
系统集成 2000万像素 CMOS 彩色相机,核心特点包括:
高分辨率: 2000万有效像素(例如 5120x3840)提供极其丰富的图像细节,充分展现物镜的分辨能力,尤其在高倍(如50X)下优势明显。
USB 3.0 高速接口: 确保高分辨率图像数据的快速传输,支持实时流畅预览和高帧率拍摄。
制冷功能: 工业级相机通常配备制冷传感器(TEC cooling),有效降低长时间曝光或高增益设置下产生的热噪声(暗电流),显著提升图像信噪比(SNR),获得更纯净、对比度更高的图像,对弱光成像(如某些暗场图像)和精确测量至关重要。
专业影像测量与分析软件:
配套软件提供全面的图像采集、处理与定量分析功能:
专家级图像采集: 精确控制曝光时间、增益、白平衡等参数,优化图像质量。
基础图像处理工具: 包括亮度/对比度调整、锐化、降噪、伪彩色等。
高级成像技术:
景深扩展(Extended Depth of Focus, EDF) / 景深合成(Focus Stacking): 通过采集样品不同焦平面的多张图像并智能融合,生成一张整体清晰、具有大景深的图像,解决高倍物镜景深浅的难题,尤其适用于表面起伏较大的样品三维形貌观察。
图像拼接(Image Stitching): 自动拍摄相邻视场的多张图像并拼接成一张高分辨率、大视野的全景图,突破单一视场的限制,实现低倍物镜下的大范围样品整体观察。
精准测量功能: 软件核心能力在于提供精确的 二维几何尺寸测量,包括:
长度/距离: 点对点、平行线距离等。
角度: 两线夹角。
周长: 封闭轮廓的总长度。
面积: 封闭轮廓内的区域大小。
视场标定: 基于已知标准尺(如物镜测微尺)进行像素与实际尺寸(如微米)的精确换算,确保所有测量结果的计量学准确性。这些功能对于金相分析中的晶粒度评级、夹杂物/相比例统计、涂层厚度测量、缺陷尺寸量化等至关重要。
四、 系统集成与应用价值
奥林巴斯BX53M反射明暗场金相显微镜系统通过其优化的反射光路、高性能半复消色差物镜、稳定的LED照明、精密的机械载物台、高分辨率科学相机以及功能强大的专业测量软件,构建了一个完整的微观世界研究平台。其技术亮点在于:
光性能: 半复消色差物镜提供高分辨率、高对比度、低色差和平坦视场的优质图像,满足严苛的研究需求。
灵活的观察模式: 无缝集成的明场和暗场照明,使研究人员能够根据样品特性灵活选择观察方式,揭示不同层面的结构信息。
强大的定量分析能力: 高分辨率相机结合专业的测量软件(含景深合成和图像拼接),实现了从微观形貌观察到精准几何量测的完整工作流程,极大地提升了研究效率和数据的客观性。
稳定的系统与操作体验: 模块化设计、稳固的镜体、符合人机工学的载物台控制,确保了长时间使用的稳定性和操作的便捷舒适。
综上所述,该系统凭借其先进的光学设计、可靠的机械结构、高精度的数字成像与智能化分析能力,成为金属材料组织分析、陶瓷/半导体检测、失效分析、地质矿物鉴定等领域进行高质量微观观察和定量研究的理想工具,为科研人员和工程师深入理解材料微观结构与性能关系提供了强有力的技术支撑。