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奥林巴斯 OLS5100:材料科研共聚焦利器

产品简介

奥林巴斯 OLS5100:材料科研共聚焦利器
在材料科学、纳米技术等科研领域,对微观形貌的三维高精度分析是推动研究进展的重要支撑。奥林巴斯激光共聚焦显微镜 OLS5100,凭借出色的三维成像能力与丰富的分析功能,成为科研人员开展微观研究的得力工具。

产品型号:
更新时间:2025-08-26
厂商性质:代理商
访问量:23
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奥林巴斯 OLS5100:材料科研共聚焦利器

在材料科学、纳米技术等科研领域,对微观形貌的三维高精度分析是推动研究进展的重要支撑。奥林巴斯激光共聚焦显微镜 OLS5100,凭借出色的三维成像能力与丰富的分析功能,成为科研人员开展微观研究的得力工具。
产品细节
OLS5100 采用落地式稳定结构,机身尺寸约 800mm×600mm×1200mm,重量 120kg,底部设有防震脚垫,能有效减少外界振动对成像的影响。操作界面为 15 英寸触控屏,搭配鼠标、键盘接口,支持多用户账户管理,可保存不同研究人员的操作参数与分析模板。样品台为电动平移结构,行程 150mm×150mm,承重 5kg,支持 X/Y/Z 轴自动对焦与扫描,定位精度达 0.1μm,可实现样品的全自动三维扫描。设备集成激光共聚焦模块与光学成像模块,可切换 2D 成像与 3D 扫描模式;侧面预留拉曼光谱仪、原子力显微镜等扩展接口,满足多技术联用需求。此外,配备大型样品室,可容纳高度 100mm 的样品,适合观察块状材料、大型器件。
产品性能
OLS5100 采用 405nm 半导体激光光源,纵向分辨率达 10nm,横向分辨率达 100nm,能清晰捕捉纳米级表面起伏(如薄膜的岛状结构、金属表面的纳米划痕)。设备支持多种扫描模式:快速扫描(帧率 10 帧 / 秒)适合初步观察,精细扫描(分辨率 4096×4096 像素)适合高分辨率三维重构。三维分析功能丰富,可计算表面粗糙度(Ra、Rz)、体积、台阶高度、孔隙率等参数,数据可直接导出至 Origin、Matlab 等软件进行进一步分析。测量过程中数据重复性较好,相同条件下多次扫描的三维形貌偏差小于 5%,能为科研提供可靠数据支持。
用材讲究
核心光学部件选用高透光率石英玻璃,配合多层镀膜技术,减少激光能量损失与杂散光干扰,确保成像质量。样品台台面采用耐磨陶瓷材质,表面平整度误差小于 2μm,既抗腐蚀又耐高温(可配合加热样品台使用,最高温度 500℃)。内部机械传动部件采用精密滚珠丝杠与伺服电机,保障长期使用后的运动精度,减少部件磨损带来的扫描偏差。设备外壳采用冷轧钢板,表面经过防静电喷涂处理,能抵抗实验室常见化学试剂的腐蚀,同时减少静电对电子元件的影响。
参数详情
参数项
具体数值
激光波长
405nm(半导体激光)
纵向分辨率
10nm
横向分辨率
100nm
扫描范围
X/Y 轴最大 150mm×150mm,Z 轴最大 10mm
样品台承重
5kg
扫描模式
2D 成像、3D 扫描、线扫描
图像分辨率
最高 4096×4096 像素
分析功能
粗糙度、体积、台阶高度计算等
工作温度
15-25℃
相对湿度
30%-60%(无冷凝)
广泛用途
在纳米材料研发中,观察纳米颗粒的分散状态、纳米管的排列结构;在薄膜科学研究中,测量薄膜的厚度均匀性、表面粗糙度,分析沉积工艺对薄膜性能的影响;在生物材料研究中,观察细胞在支架表面的黏附形态、生物涂层的三维结构;在金属材料研究中,分析金属疲劳后的纳米级裂纹扩展、腐蚀产物的微观形貌。
使用说明
使用前,将设备放置在恒温恒湿的科研实验室中(温度波动<±1℃/ 小时),安装在光学防震平台上,远离强磁场(如核磁共振仪)与强电场。打开设备电源,预热 30 分钟,同时启动激光校准程序,确保激光光路稳定。样品制备需符合共聚焦测量要求:导电性样品需清洁表面氧化层;绝缘样品(如聚合物、陶瓷)无需特殊处理,但需确保表面干燥;纳米级样品需固定在专用样品座上,避免扫描时移动。将样品放置在电动样品台上,关闭样品室门,通过触控屏设置扫描参数(如扫描范围、分辨率、扫描速度),选择 “3D 扫描" 模式。启动扫描后,系统自动完成对焦与数据采集,实时显示三维形貌重构过程。扫描完成后,利用配套软件进行数据分析(如计算表面粗糙度、提取台阶高度),并保存原始数据与分析报告。实验结束后,关闭激光光源,待设备冷却后关闭电源,清洁样品台与样品室。每周清洁光学镜头与激光出射口,每 3 个月请专业人员校准激光光路与扫描精度。


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