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奥林巴斯显微镜:材料分析的纳米之眼

产品简介

奥林巴斯显微镜:材料分析的纳米之眼
OLS5100是奥林巴斯推出的激光共聚焦显微镜,专注于材料表面形貌分析与亚微米级三维测量。其核心创新在于将405nm短波长激光与MEMS扫描振镜技术结合,实现0.12μm横向分辨率与0.5nm高度测量精度,适用于半导体、新能源、生物材料等领域的表面粗糙度检测。

产品型号:OLS5100
更新时间:2025-08-29
厂商性质:代理商
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奥林巴斯显微镜:材料分析的纳米之眼

产品定位

OLS5100是奥林巴斯推出的激光共聚焦显微镜,专注于材料表面形貌分析与亚微米级三维测量。其核心创新在于将405nm短波长激光与MEMS扫描振镜技术结合,实现0.12μm横向分辨率与0.5nm高度测量精度,适用于半导体、新能源、生物材料等领域的表面粗糙度检测。

技术突破与材料应用

  1. 光学系统
    采用双光学路径设计:

    • 激光共聚焦通道:通过针孔滤波消除离焦光,在检测锂电池隔膜表面孔隙时,可清晰区分0.5μm的微孔与1μm的缺陷。

    • 彩色成像通道:配备CMOS传感器,支持同时获取样品形貌与颜色信息,例如在分析3D打印金属零件的氧化层厚度时,可同步观察表面色泽变化。

  2. 扫描机制
    MEMS谐振扫描振镜实现X轴高速扫描(100kHz),Galvano振镜控制Y轴精确定位,扫描轨迹失真率<0.5%。在检测手机玻璃盖板表面划痕时,单次扫描仅需2秒,较传统白光干涉仪效率提升5倍。

  3. 物镜配置
    提供10×至100×五档专用LEXT物镜,工作距离覆盖0.35mm至10.4mm。以MPLAPON100XLEXT物镜为例,其0.95数值孔径可捕捉集成电路铜线表面的纳米级颗粒,测量重复性达±0.01μm。

型号参数详解

型号总倍率范围视场直径最大样品高度典型应用
OLS5100-SAF54×-1,7280×16μm-5,120μm30mm半导体晶圆表面检测
OLS5100-LAF54×-8,640×32μm-2,560μm210mm大型机械零件粗糙度分析


操作流程

  1. 样品固定
    使用磁性夹具固定金属样品,避免振动干扰;柔性样品(如聚合物薄膜)需采用真空吸附台。

  2. 参数设置
    在OLS51-BSW软件中选择“台阶高度测量"模式,设置扫描速度为50μm/s,采样间隔为0.1μm。检测太阳能电池板表面镀膜厚度时,建议采用50×物镜以平衡分辨率与视场范围。

  3. 数据分析
    利用“智能实验管理助手"自动生成测量报告,包含Ra(算术平均粗糙度)、Rz(最大高度)等12项参数。某光伏企业通过该功能发现镀膜工艺偏差,使产品良率从82%提升至95%。

行业应用

在航空航天领域,OLS5100被用于检测涡轮叶片热障涂层厚度。通过100×物镜测量0.05mm级的涂层剥落,结合3D重建功能定位缺陷位置,为涂层修复工艺提供数据支持。


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