OLS5100共聚焦显微镜科研与工业的观测利器

在科研与工业检测领域，对微观结构的精确观察和分析至关重要。奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100，以其独特的设计和强大的功能，为科研人员和工业检测人员提供了可靠的观测工具。

产品细节与性能

OLS5100的X-Y扫描仪是其一大亮点。它通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合，让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置，从而实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差的X-Y扫描。这种设计使得扫描图像更加清晰、准确，为后续的数据分析提供了可靠的基础。

设备配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）也十分出色。彩色成像光学系统使用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息，激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深特性使其能够用于测量样品的表面不规则性，同时还能捕捉任意表面形状，快速获得可靠数据。

用材精良

为了确保设备的稳定性和耐用性，OLS5100在选材上十分讲究。机身外壳采用冷轧钢板，表面经过防静电喷涂处理，能抵抗实验室常见化学试剂的腐蚀，同时减少静电对电子元件的影响。内部光学部件采用高纯度光学玻璃，经过精密加工和镀膜处理，提高了光的透过率和成像质量。机械部件采用高强度合金材料，经过特殊处理，具有耐磨、耐腐蚀的特点，能够保证设备的长期稳定运行。

参数表与型号

OLS5100有多种型号可供选择，不同型号在功能和应用场景上略有差异，用户可根据自身需求进行挑选。

用途多样

在半导体制造领域，OLS5100可用于检测芯片表面的微观缺陷、测量薄膜的厚度和均匀性等；在电子元器件检测中，能够观察元器件的内部结构和表面形貌，分析其性能和质量；在材料科学研究方面，可对材料的微观组织、晶体结构等进行观察和分析，为材料的设计和改进提供依据。

使用说明

使用OLS5100时，首先将设备连接到稳定的电源和合适的计算机系统。打开设备电源开关，等待设备初始化完成。将样品放置在样品台上，根据样品的大小和形状调整样品台的位置和角度。通过计算机软件设置扫描参数，如扫描范围、分辨率、扫描速度等。点击“开始扫描"按钮，设备将自动进行扫描和图像采集。扫描完成后，使用软件对图像进行处理和分析，如测量、标注、三维重建等。最后，保存分析结果和数据，关闭设备和计算机。