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电子元件检测,奥林巴斯金相镜的微观视角​

产品简介

电子元件检测,奥林巴斯金相镜的微观视角​
电子行业的“小"试样,藏着“大"学问。奥林巴斯GX53M倒置金相显微镜,用灵活的观察方式,成为电子元件检测的好帮手。

产品型号:GX53M
更新时间:2025-10-16
厂商性质:代理商
访问量:24
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电子元件检测,奥林巴斯金相镜的微观视角

电子行业的“小"试样,藏着“大"学问。奥林巴斯GX53M倒置金相显微镜,用灵活的观察方式,成为电子元件检测的好帮手。
针对小试样设计:载物台可选配小型夹具,固定芯片、PCB板截面等小尺寸样品,避免滑动;物镜工作距离足够长(100X物镜约2mm),不用特意抬升镜筒,操作更顺手。
光学性能适配电子材料:观察PCB板镀层厚度,100X物镜下能看清铜箔与基材的界面;分析芯片封装的空洞缺陷,微分干涉(DIC)模式可增强表面对比度,空洞轮廓更明显。光源支持256级亮度调节,从观察反光的金属焊点到深色的树脂封装,光线都能精准适配。
材质抗干扰:机身做了防电磁干扰处理,在电子厂车间使用,不会因设备运行影响成像稳定性;镜头防尘设计,减少焊接烟雾附着,保持观察清晰。
用途覆盖电子制造全流程:原材料检测(如铜箔晶粒度)、制程监控(如焊接界面分析)、失效分析(如芯片裂纹观察)。某电子元件厂用它检测BGA焊点,配合软件测量空洞面积占比,数据直接用于工艺改进。
使用步骤:1. 固定试样:用专用夹具固定小尺寸样品;2. 选物镜:根据观察需求选5X-100X;3. 调参数:亮度、对比度适配试样;4. 记录:软件拍照、测量、生成报告。
对电子检测来说,GX53M的优势在于“灵活"——既能放大微小细节,又能适应多样化的试样类型,是电子行业微观分析的实用工具。

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