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奥林巴斯正置式显微镜矿物分析基础观测设备矿物研究中,晶体形态、解理面、包裹体等微观特征是分类与鉴定的关键。石英的晶面条纹、方解石的菱面体解理、黄铁矿的立方体晶形,这些细节需高分辨率显微镜观察。奥林巴斯BX53正置式材料显微镜,以适配矿物分析的设计,成为矿物研究的基础观测设备。
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