针对科研场景需求，Sensofar S neox 推出科研定制款，在基础款之上强化了参数精度、功能扩展性与数据追溯能力。
产品细节上，科研版保持模块化设计，可加装高温、低温样品台或电学测试附件，实现原位环境下的 3D 轮廓测量。操作界面除 15.6 英寸触控屏外，支持外接专业绘图板，方便在测量图像上标注特征区域，直接完成数据分析标注。样品台新增 “手动微调" 模式，搭配精度 0.01mm 的刻度标尺，便于精准定位与重复实验验证。
性能方面，光源升级为高稳定性 LED 白光，光谱输出波动 ±2% 以内，保障长期实验的数据一致性。图像传感器采用 200 万像素背照式 CMOS，量子效率在 450nm～650nm 波段达 70%，可捕捉低反射率纳米材料的微弱信号。白光干涉模块新增 “动态干涉条纹分析" 功能，纵向分辨率优化至 0.05nm，测量范围覆盖 0.5nm～10mm，能精准测量 10nm 金属薄膜厚度与毫米级台阶高度差。
科研版还具备 “时间序列测量" 功能，可设置 10 秒 / 次至 1 小时 / 次的间隔，连续记录材料在外界刺激下的结构变化，如纳米涂层加热收缩、水凝胶吸水膨胀等动态过程。软件内置 “数据溯源" 功能，自动记录光源强度、环境温度等参数并与测量数据绑定，确保实验可重复性。
科研版核心参数表
用途涵盖碳纳米管薄膜粗糙度测量、量子点薄膜厚度分析、生物支架孔隙结构评估等。使用时若进行原位测量，需提前安装对应附件并校准环境参数，如高温测量需保温 30 分钟确保温度稳定。
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更新时间：2025-10-11
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