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Sensofar 四大核心设备,精准应对你的每一份测量需求

更新时间:2025-10-23点击次数:31

在精密制造、材料研发、电子元件等领域,高效、精准的检测技术是保障产品质量与研发进度的关键。面对不同场景下的测量需求 —— 无论是追求极速数据采集,还是需要大视野覆盖,亦或是适配自动化生产线,Sensofar 始终以技术创新为核心,打造出四大系列高性能检测设备,满足行业多样化需求。

01

S lynx 2:多技术融合,效率再升级

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作为高效检测的代表,S lynx 2 创新性地整合了三种核心测量技术:干涉技术、共聚焦技术与 AI 多焦面叠加技术。这三种技术并非简单叠加,而是形成 “速度递进" 的协作模式 —— 后一种技术在前者基础上进一步提升数据捕获效率,确保从数据采集到分析的全流程都能以 “更快速度" 完成。无论是对微小结构的精细测量,还是对批量样品的快速筛查,S lynx 2 都能凭借高效性能,为用户节省宝贵时间成本。

02

S neox:四合一技术加持,速度与精度双





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若你追求 “速度" 与 “全能测量",S neox 绝对是。这款高性能非接触式 3D 光学轮廓显微镜系统,搭载了 “共聚焦 + 白光干涉 + 相位差干涉 + AI 多焦面叠加" 的四合一技术,不仅覆盖了多种测量场景,更凭借全新智能独特算法,将数据采集速度推向新高度 ——180 fps 的采集速率,意味着即使是复杂样品的 3D 轮廓,也能在瞬间完成精准捕捉。无论是半导体芯片的微观结构检测,还是光学元件的表面粗糙度分析,S neox 都能以 “快而准" 的表现,助力研发与生产高效推进。

03

S wide:大视野测量,微尺度检测


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对于需要 “大面积样品测量" 的场景,S wide 堪称 “专属解决方案"。作为高性能非接触式 3D 光学大面积测量系统,S wide 专为微尺度测量设计,其最大测量面积可达300×300 mm(11.8×11.8 英寸) —— 这一尺寸足以覆盖多数工业大样品,无需多次拼接即可完成整体测量,既避免了拼接误差,又大幅提升了测量效率。从大型模具的表面质量检测,到柔性电子器件的全域形貌分析,S wide 都能以 “大视野 + 高精度" 的优势,确保检测。

04

S mart 2:一键集成,自动化生产的 “得力助手"

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在自动化生产线中,“便捷集成" 与 “智能操作" 是核心需求,而 S mart 2 恰好契合。作为新一代干涉 + 共聚焦测量头,S mart 2 是一款面测量系统,支持对整个区域一次性成像,无需逐点扫描,大幅简化操作流程。更关键的是,它专为自动化场景设计:用户只需 “单击一下",传感器便会自动完成焦点定位、照明优化与扫描范围调整,最后直接生成定制化结果报告 —— 全程无需人工过多干预,轻松融入现有生产线。无论是汽车零部件的批量质量检测,还是消费电子的自动化筛查,S mart 2 都能以 “低门槛操作 + 高适配性",成为自动化生产的 “高效搭档"。

现场体验邀约:亲眼见证技术实力

纸上参数终觉浅,亲身体验更直观。为了让更多用户感受 Sensofar 设备的性能,我们诚挚邀请您携带样品亲临现场 —— 无论是想测试某款设备的具体表现,还是需要针对自身需求定制检测方案,我们的专业团队都会在现场为您演示设备操作、分析测量结果,让您感受 “精准、高效、智能" 的检测技术如何推动业务发展。

从微小结构到大面积样品,从实验室研发到生产线自动化,Sensofar 始终以 “覆盖全场景" 为目标,用技术创新解决行业痛点。如果您正被检测效率低、测量场景受限等问题困扰,不妨关注 Sensofar,让专业设备成为您业务增长的 “技术引擎"!




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