布鲁克ContourX轮廓仪：应对大尺寸样品测量 在需要处理较大型工件的研发与质量检测环节，对测量设备的样品容量提出了要求。布鲁克ContourX-500三维光学轮廓仪正是为满足此类需求而设计。

认识布鲁克ContourX系列轮廓仪 布鲁克公司的ContourX系列三维光学轮廓仪，涵盖了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三种型号，为不同领域的表面三维形貌测量提供了多样的选择。这个系列的产品基于白光干涉技术（也称垂直扫描干涉术），通过非接触的方式，能够对从超光滑到相当粗糙的表面进行三维形貌测量和量化分析。

Sensofar S neox：半导体封装检测精密工具 在半导体封装制造、微型电子元件检测、射频器件研发等精密电子领域，对芯片键合线、封装胶体、引脚等微观结构的 3D 轮廓测量要求严苛，Sensofar 新型共聚焦白光干涉轮廓仪 S neox 凭借高分辨率测量能力与半导体行业适配设计，成为封装质量把控的实用工具，助力企业提升半导体产品的可靠性与良率。

Sensofar S wide：大尺寸部件 3D 检测利器 在汽车车身部件制造、航空航天结构件检测、大尺寸玻璃面板质量控制等领域，传统小视野轮廓仪难以高效完成全尺寸检测，Sensofar 大视野 3D 光学轮廓仪 S wide 凭借超大测量视野与快速拼接技术，成为大尺寸样品 3D 轮廓分析的实用工具，为工业生产中大型部件的质量把控提供高效解决方案。

S neox：纳米材料研发 3D 分析助手 在纳米材料研发、薄膜技术研究、生物医用材料设计等科研领域，对材料表面微观 3D 结构的精准分析是揭示材料性能机制的关键，Sensofar 3D 共聚焦白光干涉仪 S neox 凭借高分辨率测量能力与灵活的实验适配性，成为科研团队探索纳米尺度结构的实用工具，为材料研发提供从形貌观察到数据量化的全流程支持。

Sensofar S neox精密部件 3D 轮廓测量工具 在精密制造、半导体封装、光学元件加工等领域，对部件表面 3D 轮廓的精准测量是把控产品质量的关键环节，Sensofar 新型共聚焦白光干涉轮廓仪 S neox 凭借光学设计与稳定的测量性能，成为众多行业的实用选择，为微观尺度的轮廓分析提供有力支持。