PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量

PicoFemto扫描电镜原位气氛加热环境测量系统，将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的气氛环境并且可以对实验样品原位加热。

ZEM15原位拉伸扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化产品介绍ZEM15原位拉伸-扫描电镜采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：2

蔡司离子束显微镜ORION NanoFab集镓、氖、氦三种离子束于一身，是能实现从微米到纳米微加工的成像加工系统。

蔡司双束电镜Crossbeam系列(FIB-SEM)结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。

蔡司 GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜一直是高分辨力与宽样品适用性的代名词。无论您从事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以满足您的需求。创新的电子光学系统和新型样品腔室设计可让您拥有更佳的图像质量、易用性和灵活性。