服务热线
17701039158
产品中心
PRODUCTS CNTER当前位置:首页产品中心显微镜专业应用方案地质薄片自动显微扫描系统地质薄片自动显微扫描系统
地质薄片自动显微扫描系统图像放大后,依然可清晰观察到薄片每个部分的显微细节,可极大拓展偏光显微镜的观察视域,且视域大小可任意变动。通过大视域观察,方便快速识别镜下岩石的结构、构造、显微地质现象和粗大矿物等。
产品分类
PRODUCT CLASSIFICATION相关文章
RELATED ARTICLES地质薄片自动显微扫描系统专门开发研制的岩矿样品全自动显微扫描系统,集成研究级专业偏光显微镜、高性能物镜、高性能彩色数码摄像头,配合定制的全自动拼图扫描系统,可快速获取清晰、完整、高衬度、全视野的高分辨率岩矿薄片显微图像。地质薄片自动显微扫描系统图像放大后,依然可清晰观察到薄片每个部分的显微细节,可极大拓展偏光显微镜的观察视域,且视域大小可任意变动。通过大视域观察,方便快速识别镜下岩石的结构、构造、显微地质现象和粗大矿物等。
系统特点及实际案例:
实测案例1
实测案例2
实测案例3