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地质薄片自动显微扫描系统图像放大后,依然可清晰观察到薄片每个部分的显微细节,可极大拓展偏光显微镜的观察视域,且视域大小可任意变动。通过大视域观察,方便快速识别镜下岩石的结构、构造、显微地质现象和粗大矿物等。
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