Bruker白光干涉仪：表面测量解决方案

Bruker白光干涉仪（如ContourGT系列）是一款优良的三维光学表面轮廓仪，广泛应用于科研、工业和质量控制领域。该设备采用白光干涉技术，通过测量光程差来获取样品表面的三维形貌和粗糙度信息。其非接触式测量方式避免了对样品的物理损伤，适用于多种材料和复杂表面的测量。Bruker白光干涉仪：表面测量解决方案

产品性能方面，布鲁克白光干涉光学轮廓仪具备高精度和高分辨率，垂直测量范围可达0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重现性可达0.01nm。设备支持多种测量模式，如相移干涉（PSI）和垂直扫描干涉（VSI），适用于不同表面特性样品的测量。

在操作方面，设备配备直观的用户界面和优化的分析软件，支持数据处理速度提升几十倍，分析速度提升十倍，支持数据无缝拼接和可视化操作工具，便于用户快速完成测量和分析。

布鲁克白光干涉光学轮廓仪适用于LED、半导体、太阳能、医疗设备、MEMS等领域的表面形貌和粗糙度测量，是科研和工业应用中的理想选择。Bruker白光干涉仪：表面测量解决方案

Bruker白光干涉仪（如ContourGT系列）是一款基于白光干涉原理的三维光学表面轮廓仪，广泛应用于科研、工业和质量控制领域。该设备采用优良的白光干涉技术，通过测量光程差来获取样品表面的三维形貌和粗糙度信息。其非接触式测量方式避免了对样品的物理损伤，适用于多种材料和复杂表面的测量。

产品性能方面，Bruker白光干涉仪具备高精度和高分辨率，垂直测量范围可达0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重现性可达0.01nm。设备支持多种测量模式，如相移干涉（PSI）和垂直扫描干涉（VSI），适用于不同表面特性样品的测量。

在操作方面，设备配备直观的用户界面和优化的分析软件，支持数据处理速度提升几十倍，分析速度提升十倍，支持数据无缝拼接和可视化操作工具，便于用户快速完成测量和分析。

Bruker白光干涉仪适用于LED、半导体、太阳能、医疗设备、MEMS等领域的表面形貌和粗糙度测量，是科研和工业应用中的理想选择。