在科研与工业生产中，对物体表面微观形貌的细致了解十分重要。Sensofar 三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪凭借技术融合与实用设计，为各领域提供了可靠的测量支持。以下介绍两款该系列产品。Sensofar 轮廓仪：微观检测好帮手
一、S neox：多技术融合，适用广泛
产品细节：设计紧凑，操作便捷
S neox 的外观设计紧凑，能轻松安放在实验室的工作台面，不会占用过多空间。操作面板的按键布局合理，搭配清晰的显示屏，操作人员能快速熟悉各项功能的设置。样品台采用平稳的移动结构，可灵活调整样品位置，确保测量区域精准对准。设备的光学镜头部分有保护装置，能减少灰尘和意外触碰对镜头的影响。
产品性能：技术协同，表现稳定
这款轮廓仪融合了共聚焦和白光干涉两种技术，可根据样品表面特性自动切换或组合使用。共聚焦技术适用于粗糙表面或高对比度样品的成像，白光干涉技术则在光滑表面的三维形貌测量中表现出色。在测量过程中，设备运行平稳，数据采集连贯，能保持较好的结果一致性。其测量范围可灵活调整，满足不同尺寸样品和测量精度的需求。
用材讲究：注重品质，经久耐用
S neox 的光学元件选用高透光率的材料，保证光线传输的稳定性，提升成像质量。机械传动部件采用耐磨的合金材料，减少长期使用后的磨损，维持运动精度。设备外壳采用坚固的金属材质，具有一定的抗冲击能力，能保护内部部件免受外界环境的影响。
参数详情
广泛用途
在材料科学领域，可用于测量薄膜厚度、表面粗糙度，为材料性能研究提供数据。在半导体行业，能检测芯片表面的微小缺陷和结构尺寸，助力产品质量控制。在光学制造中，可对透镜、棱镜等元件的表面面形进行测量，确保其光学性能符合要求。此外，在生物医学领域，也可用于生物样本的表面形貌观察。
使用说明
使用前，检查设备的电源连接和各部件是否完好。将设备放置在平稳、无强烈振动的工作台上，避免环境干扰。放置样品时，轻放并固定牢固，防止测量中移位。根据样品类型选择合适的测量模式和参数，设置完成后启动测量。测量过程中，留意设备运行状态，若出现异常应及时停止并排查原因。测量结束后，关闭电源，清理样品台，定期清洁光学镜头，保持设备良好状态。Sensofar 轮廓仪：微观检测好帮手
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