布鲁克三维轮廓仪：实验室微观测量优选
在科研实验室的微观测量工作中，一款稳定且易用的轮廓仪能显著提升研究效率。布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-500，凭借贴合实验室场景的设计与可靠性能，成为众多科研人员的常用工具。
产品细节
ContourX-500 采用桌面式紧凑设计，机身尺寸小巧，无需占用过多实验台空间，轻松融入各类实验室布局。操作面板布局清晰，按键标识简洁易懂，搭配高清触控显示屏，即使是初次操作的人员，也能通过引导式菜单快速完成参数设置。样品台采用高精度平移结构，配备可调节的样品夹具，能稳固固定从微小芯片到中等尺寸光学镜片的各类样品，且移动过程平稳无震，确保测量区域精准对准。设备光学镜头处设有防尘保护盖，闲置时可有效隔绝灰尘，保障光学部件清洁；侧面预留数据接口，方便连接电脑、打印机等外部设备，实现数据导出与报告打印。
产品性能
ContourX-500 融合白光干涉与共聚焦测量技术，可根据样品表面特性自动切换测量模式。面对光滑的光学元件表面，白光干涉技术能清晰捕捉纳米级的高度变化；测量粗糙的金属或塑料表面时，共聚焦模式则可提供高横向分辨率的细节成像。设备测量过程中数据采集连贯，多次测量同一位置的结果一致性较好，能为科研实验提供稳定的数据支持。其测量速度可根据需求调节，快速扫描模式适合大面积样品的初步检测，精细扫描模式则能满足小区域高分辨率测量需求，兼顾效率与精度。
用材讲究
核心光学部件选用高透光率的光学玻璃，经过特殊镀膜处理，减少光线反射与色散，确保成像清晰。样品台台面采用耐磨的陶瓷材料，表面经过精细抛光，既具备良好的平整度，又能抵常使用中的刮擦，延长使用寿命。内部机械传动部件采用高强度合金，配合精密导轨，保障长期使用后的运动精度，减少部件磨损带来的测量偏差。设备外壳采用防腐蚀的工程塑料，轻便且坚固，能保护内部元件免受实验室常见化学试剂的轻微腐蚀。
参数详情
广泛用途
在材料科学研究中，ContourX-500 可用于测量薄膜厚度、表面粗糙度，助力分析涂层制备工艺对材料性能的影响；在光学元件研发领域，能检测透镜、棱镜的表面面形误差与边缘缺陷，为元件性能优化提供数据；在生物医学研究中，可观察细胞培养载体的表面微观结构，研究其对细胞黏附与生长的影响；此外，在微电子领域，还能用于检测芯片封装表面的焊点高度与平整度，辅助改进封装工艺。
使用说明
使用前，需将 ContourX-500 放置在水平、无明显振动的实验台上，检查电源连接是否正常，打开设备电源进行预热，预热时间建议不少于 30 分钟。清洁样品表面的灰尘与油污，根据样品尺寸调整样品夹具，将样品平稳固定在样品台上，确保样品表面无倾斜。通过触控屏选择测量模式，设置扫描范围、分辨率、速度等参数，若需保存测量方案，可在系统中创建自定义程序。点击 “开始测量" 后，设备自动启动扫描，过程中避免触碰样品台或设备机身。测量完成后，系统自动生成三维形貌图与数据报告，可通过数据接口导出至电脑进行进一步分析。实验结束后，关闭设备电源，盖上镜头防尘盖，清洁样品台与夹具，定期（建议每 3 个月）请专业人员对光学系统进行校准，确保设备长期处于良好工作状态。
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