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布鲁克三维光学轮廓仪:小型实验室测量利器

产品简介

布鲁克三维光学轮廓仪:小型实验室测量利器
对于空间有限的小型实验室或教学实验室,布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-200 以其小巧身形与实用性能,成为微观测量工作的理想选择。

产品型号:ContourX-200
更新时间:2025-08-25
厂商性质:代理商
访问量:34
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布鲁克三维光学轮廓仪:小型实验室测量利器

对于空间有限的小型实验室或教学实验室,布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-200 以其小巧身形与实用性能,成为微观测量工作的理想选择。
产品细节
ContourX-200 采用迷你桌面设计,机身重量仅 8kg,尺寸与一台小型打印机相近,可直接放置在普通实验台角落,极大节省空间。操作界面采用简化设计,仅保留核心功能按键,搭配清晰的图标式显示屏,适合学生或新手快速掌握操作流程。样品台为手动调节式,配备刻度标尺,便于操作人员直观判断样品移动距离,虽无自动平移功能,但结构简单可靠,维护成本低。设备光学部件集成度高,镜头与光源一体化设计,无需复杂的光学调试步骤,开箱后连接电源即可使用。机身侧面设有便携提手,方便在不同实验室间移动,满足多房间教学或临时测量需求。
产品性能
ContourX-200 虽体积小巧,但测量性能可满足基础微观测量需求。其采用白光干涉测量技术,能对表面粗糙度 Ra 值在 0.01 - 10μm 范围内的样品进行有效测量,如塑料样品的表面纹理、薄金属片的厚度差等。设备测量数据的重复性较好,在相同条件下多次测量,结果偏差较小,适合教学实验中对比不同样品的特性差异。测量速度适中,单次小区域(如 500μm×500μm)扫描时间约 1 - 2 分钟,既能完成教学演示,又不会让实验过程过于冗长。此外,设备具备数据实时显示功能,扫描过程中可动态观察样品表面三维形貌的生成,便于教学中直观讲解测量原理。
用材讲究
为控制体积与重量,ContourX-200 外壳采用轻质高强度工程塑料,具备一定的抗摔能力,适合教学环境中频繁移动与使用。光学镜头选用高透光率树脂镜片,虽在精度要求下略逊于玻璃镜片,但能满足基础测量与教学需求,且成本更低、不易破碎。样品台台面采用耐磨的亚克力材质,表面光滑平整,可直接放置样品,无需额外夹具,简化操作步骤。内部电路采用低功耗设计,搭配节能光源,不仅降低耗电量,还减少设备发热,延长使用寿命。
参数详情
参数项
具体数值
横向分辨率
最高可达 0.5μm
纵向分辨率
低至 1nm
测量范围(纵向)
1nm - 5mm
样品台尺寸
100mm×100mm
样品台调节方式
手动平移(X/Y 轴)
扫描速度
0.5 - 5mm/s(可调)
数据接口
USB 2.0
设备重量
8kg
工作温度
18 - 28℃
相对湿度
30% - 60%(无冷凝)
广泛用途
在高校教学实验中,ContourX-200 可用于材料科学基础实验,让学生学习表面粗糙度测量方法;在中职院校的机械专业实训中,能帮助学生检测手工打磨零件的表面质量,理解加工工艺对表面特性的影响;在小型科研团队中,适合用于新材料的初步筛选测量,如检测不同配方涂层的厚度均匀性;此外,在中小学的科普实验中,也可通过其直观的三维成像,让学生初步了解微观世界的表面形态。
使用说明
使用前,将 ContourX-200 放置在平稳的实验台上,避免靠近窗户或空调出风口,防止光线直射与气流干扰。连接电源与电脑,安装配套测量软件并完成设备连接。清洁样品表面,去除灰尘与杂质,将样品直接放置在样品台中央,通过手动旋钮移动样品台,使测量区域对准镜头下方。打开软件,设置测量参数(如扫描范围、分辨率),点击 “对焦" 按钮,软件自动完成对焦操作,若对焦效果不佳,可手动微调样品台高度。启动测量后,软件实时显示扫描进度与三维形貌图,测量过程中避免触碰设备。测量完成后,可在软件中进行数据分析(如计算粗糙度、高度差),并将结果保存为图片或表格格式。实验结束后,关闭设备电源,断开电脑连接,用干布擦拭样品台与机身,若镜头表面有灰尘,可用专用镜头纸轻轻擦拭。定期(建议每学期)检查设备光学部件是否偏移,若发现测量结果异常,及时联系专业人员校准。

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