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徕卡DM4M：半自动金相显微的实用之选在材料科学领域，一款兼具操作便捷性与成像可靠性的显微镜是科研与生产的得力助手。徕卡正置式半自动金相显微镜DM4M，凭借其设计与实用功能，成为众多用户的信赖之选。
在材料科学领域，一款兼具操作便捷性与成像可靠性的显微镜是科研与生产的得力助手。徕卡正置式半自动金相显微镜DM4M，凭借其设计与实用功能，成为众多用户的信赖之选。
DM4M采用模块化设计，可灵活实现反射与透反射观察模式切换，满足不同样品的检测需求。其配备6孔位编码物镜转盘，可搭载32mm直径工业物镜，支持从低倍到高倍的连续观察。机身内置LED透反射照明系统，智能光强调节功能可根据观察模式自动匹配最佳亮度，确保成像稳定性。
该显微镜的2-齿轮手动调焦驱动器设计兼顾粗调与微调需求，配合手动三叠式载物台，可实现样品在X、Y、Z三轴方向的精准定位。6个可编程功能键布局符合人体工学，用户可将常用操作（如光强调节、对比模式切换）绑定至快捷键，大幅提升工作效率。
| 参数类别 | 详细规格 |
|---|---|
| 目镜 | 10×，视域直径25mm |
| 物镜 | 5×（NA=0.15）、10×（NA=0.30）、20×（NA=0.50）、50×（NA=0.85）、100×（NA=0.90） |
| 载物台 | 手动三叠式，支持4×4或6×6英寸大样品台扩展 |
| 照明系统 | LED透反射光源，寿命达25,000小时 |
| 对比模式 | 明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光 |
| 调焦精度 | 细调焦步进1μm |
DM4M适用于金属、陶瓷、高分子材料及电子元器件的常规检测。在钢铁行业，其可快速完成夹杂物比例测定与晶粒度分析；在半导体领域，通过荧光观察模式可检测芯片表面缺陷。用户只需将样品固定于载物台，通过物镜转盘选择合适倍率，利用照明管理系统自动匹配光强参数，即可开始观察。成像数据可通过LAS X软件平台导出，支持与历史记录对比分析。