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产品简介
多技术融合：S neox应对复杂测量挑战在现代自动化生产线上，如何将高精度的三维检测技术无缝集成，是实现智能制造的关键一环。Sensofar的S mart2集成式3D共焦白光干涉测量头，正是为此而生的解决方案。它将复杂的光学系统浓缩在一个紧凑的工业级外壳内，易于集成到机械臂、CNC机床或定制自动化设备中。
产品分类
面对日益复杂的样品和更高的检测要求，单一测量技术有时会显得力不从心。Sensofar S neox的多技术融合特性，使其能够从容应对各种复杂的表面测量挑战，为用户提供一个更全面、更可靠的工具。Sensofar新型共聚焦白光干涉轮廓仪
产品细节与性能
S neox的“多技术融合"并非简单拼凑，而是深层次整合。其智能系统能根据预设的程序，在同一视场内自动切换不同的测量技术。例如，可以先使用共聚焦模式快速扫描整个区域并识别出具有不同特征的子区域，然后针对光滑区域自动切换到干涉模式进行纳米级精度的测量。
这种智能的工作流程不仅保证了每个特征都能用最合适的技术进行测量，还避免了人为切换带来的误差和时间消耗。True Color技术还能在测量形貌的同时，捕获真实的表面颜色信息，为分析提供更多维度的参考。
用途深入解析
在MEMS器件测量中，既有高深宽比的结构（适合共聚焦），又有光滑的反射面（适合干涉），S neox可一次测量全面表征。在透明薄膜测量中，共聚焦模式可以过滤掉底层反射的干扰，准确测量薄膜表面形貌。在混合材料样品上，不同材质的反射率差异巨大，多技术选择确保了测量的成功率。
使用说明
用户可以在SensoMAP软件中轻松设置测量序列（Recipe），将不同技术的测量步骤、物镜选择、参数设置等保存下来。日后遇到同类样品，只需调用该Recipe，即可实现一键式全自动测量，极大降低了对操作人员的技术要求，保证了测量结果的一致性和可重复性。Sensofar新型共聚焦白光干涉轮廓仪