舜宇显微镜：研究级的“全能选手”

舜宇显微镜：研究级的“全能选手"

在科研与工业检测领域，显微镜需同时满足高分辨率、多功能性与操作舒适性。舜宇RX50M研究级正置金相显微镜通过创新的光学设计与人性化交互，成为材料科学、半导体检测等场景的核心工具。

产品细节：以用户为中心的设计哲学

RX50M的观察筒采用30°倾斜设计，支持瞳距调节（50-76mm）与三档分光比（双目:三目=100:0/20:80/0:100），用户可同时通过目镜与摄像系统观察样品，提升数据记录效率。机身集成数字调光屏，可实时显示照明电压，并支持一键切换透反射照明模式，简化复杂场景下的操作流程。

性能突破：从明场到微分干涉的全覆盖

1. 光学系统：搭载无限远色差校正系统与U-DICR微分干涉组件，可将0.1μm级的表面高低差转化为高对比度明暗差。例如，在检测精密磁盘表面划痕时，DIC模式可呈现立体浮雕效果，划痕深度测量误差小于0.05μm。

2. 偏振系统：内置360°旋转式检偏器，用户无需移动样品即可观察不同偏振角度下的图像。在半导体检测中，该功能可有效消除晶圆表面反射杂光，提升缺陷识别率。

3. 照明系统：透反射照明装置兼容12V/100W超长寿命卤素灯，配合摇出式消色差聚光镜（N.A.0.9），实现均匀照明与低倍率色差校正。例如，在检测大型金属铸件时，反射照明模式可覆盖78mm高度的样品，满足无损检测需求。

用材与参数：专业性与耐用性的结合

• 物镜系统：提供明暗场半复消色差物镜（5X-100X），数值孔径（N.A.）达0.9，工作距离1.0-19.5mm，适配从薄片到厚样品的检测需求。

• 载物台：4英寸（102×102mm）玻璃载物台，支持Y轴锁定功能，防止阵列器件检测时漏检。

• 关键参数：

  
  

  项目	参数
  总放大倍率	50X-1000X
  目镜	PL10X/25mm（超宽视野目镜）
  微调精度	0.001mm
  滤色片插槽	4个（支持LBD、ND50等）

  
  

使用场景与操作技巧

RX50M支持明场、暗场、斜照明、DIC与偏光观察模式。在检测LCD导电粒子时，用户可先使用明场模式定位粒子，再切换至DIC模式测量粒子尺寸；在地质材料分析中，搭配蓝色滤色片（≤480nm）可增强矿物荧光效应。操作时，建议利用物镜转换器的低手位设计，快速切换放大倍率，同时通过数字调光屏监控照明强度，避免过曝。

行业应用与用户反馈

东莞某半导体企业引入RX50M后，将其应用于晶圆缺陷检测，工程师评价称：“其DIC模式与360°偏振系统显著提升了缺陷识别效率，单片晶圆检测时间从15分钟缩短至8分钟。"目前，该型号已服务于中科院、清华大学等科研机构，以及华为、三星等企业。

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