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探索Sensofar光学轮廓技术Sensofar Metrology作为光学测量领域的参与者，其S neox和LIN系列三维光学轮廓仪集成了多种光学测量技术，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），为微观表面的三维形貌测量提供了多样的解决方案。
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Sensofar Metrology作为光学测量领域的参与者，其S neox和LIN系列三维光学轮廓仪集成了多种光学测量技术，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），为微观表面的三维形貌测量提供了多样的解决方案。
S neox系列是平台型产品，其核心特点在于一台仪器上融合了多种测量模式。用户可以根据样品的表面特性（如粗糙度、斜率、反射率）自由选择最合适的测量技术。对于陡峭边缘和粗糙表面，共聚焦模式表现出色；而对于光滑表面进行纳米级测量时，白光干涉模式则能提供所需的数据。这种灵活性使S neox能够应对复杂的测量挑战。
LIN系列则更侧重于经济性与实用性，主要提供共聚焦和白光干涉两种基本模式，在保证核心测量性能的同时，简化了系统配置，降低了用户的使用门槛。
在制造用材上，Sensofar仪器通常采用稳固的机械结构和热稳定性好的材料，以抑制外界振动和温度漂移对测量结果的影响。其核心光学部件，如物镜和光源，均经过专门设计，以确保成像质量和测量信号的稳定性。
简要技术参数对比（示例）：
| 型号系列 | 主要技术 | 定位特点 | 物镜支持 |
|---|---|---|---|
| S neox | 共聚焦、白光干涉(VSI)、相移干涉(PSI) | 多技术融合平台 | 广泛，支持自动切换 |
| LIN | 共聚焦、白光干涉(VSI) | 经济实用型 | 标准配置 |
这些仪器广泛应用于半导体、光学、材料科学、精密制造等行业，用于测量表面粗糙度、台阶高度、体积、磨损等关键参数。操作上，它们通常配备直观的软件界面，引导用户完成从图像采集、数据处理到生成分析报告的全过程。