解锁微观世界：激光共聚焦显微镜科研新选择

解锁微观世界：激光共聚焦显微镜科研新选择

在材料科学与纳米技术飞速发展的今天，科研人员对微观形貌的三维高精度分析需求日益增长。奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100，凭借其出色的三维成像能力与丰富的分析功能，成为科研工作者探索微观世界的得力工具。

产品细节与性能

OLS5100采用落地式稳定结构，机身尺寸约800mm×600mm×1200mm，重量120kg，底部设有防震脚垫，有效减少外界振动对成像的影响。其核心光源为405nm半导体激光，相较于传统可见光光源，短波长特性赋予了显微镜更高的横向分辨率，最小可分辨尺寸达0.12μm，纵向分辨率达10nm，能清晰捕捉纳米级表面起伏，如薄膜的岛状结构、金属表面的纳米划痕。

设备集成激光共聚焦模块与光学成像模块，支持2D成像与3D扫描模式切换。侧面预留拉曼光谱仪、原子力显微镜等扩展接口，满足多技术联用需求。样品台为电动平移结构，行程150mm×150mm，承重5kg，支持X/Y/Z轴自动对焦与扫描，定位精度达0.1μm，可实现样品的全自动三维扫描。

用材与参数表

核心光学部件选用高透光率石英玻璃，配合多层镀膜技术，减少激光能量损失与杂散光干扰，确保成像质量。样品台台面采用耐磨陶瓷材质，表面平整度误差小于2μm，既抗腐蚀又耐高温，可配合加热样品台使用，最高温度达500℃。内部机械传动部件采用精密滚珠丝杠与伺服电机，保障长期使用后的运动精度。

型号与用途

OLS5100提供多种型号，如OLS5100-SAF、OLS5100-SMF等，适用于不同场景。在纳米材料研发中，可观察纳米颗粒的分散状态、纳米管的排列结构；在薄膜科学研究中，测量薄膜的厚度均匀性、表面粗糙度，分析沉积工艺对薄膜性能的影响；在生物材料研究中，观察细胞在支架表面的黏附形态、生物涂层的三维结构；在金属材料研究中，分析金属疲劳后的纳米级裂纹扩展、腐蚀产物的微观形貌。

使用说明

使用前，将设备放置在恒温恒湿的科研实验室中，安装在光学防震平台上，远离强磁场与强电场。打开设备电源，预热30分钟，同时启动激光校准程序。样品制备需符合共聚焦测量要求：导电性样品需清洁表面氧化层；绝缘样品无需特殊处理，但需确保表面干燥；纳米级样品需固定在专用样品座上。将样品放置在电动样品台上，关闭样品室门，通过触控屏设置扫描参数，选择“3D扫描"模式。启动扫描后，系统自动完成对焦与数据采集，实时显示三维形貌重构过程。扫描完成后，利用配套软件进行数据分析，保存原始数据与分析报告。

OLS5100以其稳定性能与丰富功能，为科研人员提供了探索微观世界的新视角，助力材料科学、纳米技术等领域的研究取得新进展。

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