OLS5100共聚焦显微镜微观世界精准洞察者

在科研与工业检测的征程中，对微观世界的精准洞察是推动技术进步的关键。奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100，凭借其优良的技术和实用的功能，成为微观世界的精准洞察者。

产品细节：精心打造的设计亮点

OLS5100的彩色成像光学系统使用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息，激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。这种双光学系统的设计，让设备能够同时获取样品的彩色信息、高度信息和高分辨率图像，为用户提供更全面的微观世界信息。

产品性能：高效稳定的观测表现

OLS5100的激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线，并非采集从样品上反射和散射的所有光线，有助于消除模糊，获得比普通显微镜对比度更高的图像。在测量高度时，显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像，根据非连续的焦点位置（Z）和检测光强度（I）估算每个像素的光强变化曲线（I - Z曲线），并获得其峰值位置和峰值强度，从而得到样品表面的3D形状信息。

用材考究：确保设备的可靠运行

核心光学部件选用高透光率光学玻璃，经过特殊镀膜处理，减少光线反射与损耗。样品台台面采用耐磨陶瓷材质，表面平整度误差小于2μm，既抗腐蚀又耐高温。内部机械传动部件采用精密滚珠丝杠与伺服电机，保障长期使用后的运动精度。这些优质的材料选择，为设备的稳定运行提供了坚实的保障。

参数表：详细呈现设备性能参数

型号多样：适应不同检测需求

OLS5100提供多种型号，如OLS5100 - SAF、OLS5100 - LAF等。OLS5100 - SAF适用于对分辨率要求较高的半导体芯片检测等领域，能够清晰捕捉芯片表面的微小结构；OLS5100 - LAF则更适合大型机械零件的表面粗糙度检测，其较大的样品容纳空间和长工作距离物镜，方便对大型样品进行全面检测。

用途广泛：科研与工业的多面手

在材料科学领域，OLS5100可用于分析金属材料的晶粒大小和晶界情况，为材料的性能优化提供依据；在半导体制造中，能对芯片表面的微电路结构进行测量和分析，助力提升芯片制造的质量；在生物医学领域，可观察细胞在支架表面的黏附形态，为生物材料的研究提供重要数据；在新能源领域，可用于检测电池材料的微观结构，为电池性能的改进提供支持。