基恩士VK‑X3000 的三种扫描原理与优势

基恩士VK‑X3000 的三种扫描原理与优势

基恩士 VK‑X3000 通过激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化三套扫描技术，为不同材料提供适合的测量方案。

1. 激光共聚焦

• 采用 405 nm 及以下波长的固体激光，光斑直径可调至亚微米级。

• 双共焦针孔抑制离焦光，提升信噪比，实现 0.01 nm 级分辨率。

• 适用于金属、陶瓷等高反射或不透明样品的三维形貌测量。

2. 白光干涉

• 基于宽谱 LED 光源，利用相位差实现亚纳米级高度测量。

• 对透明或半透明材料（如光刻胶、薄膜）提供无接触、无损测量。

• 可在 50 mm × 50 mm 大视场内完成全景扫描。

3. 聚焦变化（焦距扫描）

• 通过改变光学系统的焦距，实现对样品不同深度的快速扫描。

• 适合形状复杂、凹凸不平的样品（如微机电结构）进行快速轮廓捕获。

综合优势

• 灵活切换：软件一键切换三种模式，省去更换光学部件的时间。

• 高效测量：高速扫描配合自动聚焦，单次测量时间可在秒级完成。

• 数据完整：系统自动生成 3D 点云、等高线图和表面粗糙度报告，满足科研与工业双重需求。

  
  

产品配置了多种型号的物镜，包括长工作距离物镜，用于观察高低落差较大的样品；还有专门设计的物镜，用于减小像差，提升边缘视场的成像质量。用户可以根据样品的材质、形状和测量目标，选择合适的物镜进行工作。

VK-X3000的用途因此十分广泛。它可以用于测量金属件的加工粗糙度，检查玻璃表面的微小划痕，评估高分子材料的磨损情况，分析涂层或镀层的厚度与均匀性，甚至观察生物材料的表面结构。这种对多材料的适应性，使其成为跨行业研发和品质管理中一种有用的工具。