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LinKam TS1500高温热台地质与电子领域应用

产品简介

LinKam TS1500高温热台地质与电子领域应用
地质研究中,TS1500 可模拟岩浆冷却、矿物相变过程,为地质演化分析提供数据。

产品型号:
更新时间:2025-10-14
厂商性质:代理商
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LinKam TS1500高温热台地质与电子领域应用

一、地质样品熔融与相变研究应用
地质研究中,TS1500 可模拟岩浆冷却、矿物相变过程,为地质演化分析提供数据。以玄武岩熔融实验为例:
(一)实验核心配置
  1. 样品处理:将玄武岩破碎后压制成直径 8mm、厚度 0.8mm 薄片,表面无杂质;

  1. 设备适配:换刚玉热电偶保护套管(耐 1800℃),加热区域通氩气(流量 30mL/min)防样品氧化;

  1. 程序设置:段 1(室温→1000℃,速率 20℃/min),段 2(1000℃→1500℃,速率 10℃/min),段 3(1500℃保温 60 分钟),段 4(1500℃→室温,速率 5℃/min)。

(二)关键过程与结果
  1. 熔融监测:软件曲线显示 1280℃出现拐点(熔融起始),1350℃曲线平缓(全熔融),与玄武岩理论熔融温度吻合;

  1. 数据应用:结合显微镜观察,1500℃保温阶段记录熔体流动状态,为岩浆黏度研究提供依据;降温阶段捕捉矿物结晶温度(如辉石在 1100℃开始结晶),辅助重建地质体冷却历史。

二、电子元件耐高温可靠性测试应用
电子领域中,TS1500 可测试芯片、封装材料耐高温性能,以芯片封装环氧树脂测试为例:
(一)实验核心配置
  1. 样品处理:取封装环氧树脂切片(直径 8mm、厚度 0.5mm),保留芯片与树脂结合面;

  1. 设备适配:用 K 型热电偶(不锈钢套管),样品直接放加热面(无需夹具);

  1. 程序设置:段 1(室温→800℃,速率 5℃/min),段 2(800℃保温 30 分钟),段 3(800℃→室温,速率 10℃/min)。

(二)关键过程与结果
  1. 失效监测:450℃时样品出现微裂纹(软件联动显微镜观察),600℃树脂开始碳化,记录失效温度区间;

  1. 数据应用:根据实验结果,建议该环氧树脂封装芯片的工作温度不超过 400℃,为电子设备耐高温设计提供参考。

三、场景适配操作要点
  1. 地质样品:高温段(1000℃以上)速率≤10℃/min,避免样品崩裂;通惰性气体时,确保加热区域密封性,防止气体泄漏影响温度均匀性;

  1. 电子样品:低温段(室温→500℃)密切观察样品形变,发现异常立即暂停实验;保温阶段记录加热功率变化,功率骤降可能提示样品分解;

  1. 通用注意:实验前校准热电偶(用标准金属熔点验证,如锡 231.9℃),确保测温误差≤±0.5℃;样品尺寸严格匹配加热区域(直径≤10mm),避免超出部分受热不均。

通过地质与电子领域的针对性应用,TS1500 以宽温域与精准控温,快速满足不同场景的核心实验需求,为研究与测试提供可靠数据支撑。
LinKam TS1500高温热台地质与电子领域应用


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