布鲁克三维光学轮廓仪参数背后的测量力解析
一、产品定位与型号信息
ContourX-500 是一款通用型三维光学轮廓仪，主打 “非接触测量 + 宽测量范围"，适配电子元件、光学零件、机械部件等场景的表面形貌检测，无衍生子型号，核心差异在于可选配的测量物镜（2.5X、5X、10X、20X、50X）与样品台（手动 / 自动）。设备尺寸为 600mm×550mm×480mm（长 × 宽 × 高），重量约 32kg，台式一体化设计，集成光学系统、成像模块与数据处理单元，开箱连接电源即可使用。
二、核心参数与性能关联
（一）光学测量参数
采用白光干涉技术，垂直测量范围 0.1nm-10mm，水平测量范围 5μm-80mm，不同物镜对应不同精度：2.5X 物镜水平分辨率 6.4μm、垂直分辨率 0.1nm，适合大尺寸零件（如机械外壳）整体形貌测量；50X 物镜水平分辨率 0.64μm、垂直分辨率 0.05nm，适配微小结构（如芯片引脚）检测。
测量速度方面，单幅图像采集时间 0.2-1.5 秒，全视野扫描时间≤25 秒（5X 物镜下 5mm×5mm 视野），支持连续测量模式，可自动完成 10 个区域批量检测，满足中等效率检测需求。数据点密度最高 800 点 /mm²，能还原表面粗糙度、台阶高度、沟槽深度等细节。
（二）系统与兼容参数
配备 160 万像素 CMOS 传感器，最大分辨率 1280×1024，结合专用成像算法，低反射样品（如塑料）也能清晰成像。光源为高稳定性 LED 白光，色温 5600K，亮度波动≤1.5%/ 小时，减少光源干扰。
兼容 Windows 10 及以上系统，配套 ContourPro 软件支持 CAD 文件导入，自动对比测量数据与设计值，生成偏差报告；数据可导出为 CSV、STL、BMP 格式，便于后续分析。
三、参数与场景适配
电子领域检测芯片键合线（高度 20-50μm）时，选 50X 物镜，垂直分辨率 0.05nm 可区分 ±0.1μm 高度差异；机械领域测轴承表面粗糙度（Ra≤0.8μm）时，用 10X 物镜，水平分辨率 1.6μm 覆盖局部区域，25 秒内完成扫描，生成 Ra 值与 3D 形貌图。
参数调整需遵循 “样品尺寸 - 精度需求" 原则：大样品选低倍物镜，小样品选高倍物镜；高精度需求选高数据点密度，快速检测选低密度。例如测手机玻璃划痕（宽度≥1μm），用 10X 物镜、500 点 /mm² 密度，5 分钟内完成单样品检测，兼顾细节与效率。布鲁克三维光学轮廓仪参数背后的测量力解析
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