布鲁克三维光学轮廓仪复杂样品也能轻松测
一、透明样品：不被反光 “干扰" 的检测方案
在光学零件检测中，玻璃镜片、透明薄膜这类样品的反光问题，常让传统设备难以清晰捕捉表面状态，而 ContourX-500 能通过专属优化方案，避开反光干扰，精准获取数据。
比如检测手机镜头玻璃时，传统设备可能因表面反光导致划痕、气泡 “看不清"，需要反复调整角度才能勉强检测。ContourX-500 只需开启 “透明样品模式"，系统会自动调整光源角度与成像算法，削弱表面反光，让玻璃表面的细微划痕、微小气泡清晰呈现，不用再依赖操作人员的经验反复调试。
检测光学薄膜时，即使薄膜厚度极薄，也能通过非接触测量方式，完整记录薄膜表面的平整度状态，避免因接触压力导致薄膜变形，影响检测结果。无论是研发阶段的薄膜工艺优化，还是生产环节的质量抽检，都能快速获得可靠数据，不用再担心透明材质带来的检测难题。
二、柔性样品：不担心 “变形" 的测量保障
塑料薄膜、金属箔片等柔性样品，最大的检测痛点是容易因夹持受力变形，导致数据失真，而 ContourX-500 从样品固定到测量方式，都为柔性样品做了适配设计。
以食品包装用塑料薄膜检测为例，需要测量薄膜表面的粗糙度，判断是否影响印刷效果。ContourX-500 的样品台支持 “轻压固定"，用柔软的固定组件轻轻压住薄膜边缘，避免局部受力导致褶皱；搭配非接触测量技术，无需接触薄膜表面就能完成扫描，从根本上杜绝因测量方式导致的样品变形，确保粗糙度数据真实反映薄膜实际状态。
检测金属箔片（如锂电池用铝箔）时，即使箔片薄至几微米，也能通过设备的低倍率快速扫描，查看是否存在针孔、划痕等缺陷，同时高倍率可聚焦局部区域，观察细微的表面凸起，为箔片生产工艺调整提供参考。整个检测过程不用担心样品破损或变形，降低检测损耗。
三、微小样品：不放过 “细节" 的精准捕捉
电子行业的芯片引脚、微型齿轮等微小样品，检测难点在于 “尺寸小、细节多"，传统设备可能难以清晰呈现细微结构，而 ContourX-500 通过灵活的物镜搭配与细节优化，轻松应对这类样品检测。
比如检测芯片上的细小键合线，直径仅几十微米，低倍率下难以看清形态，高倍率又容易遗漏整体分布。ContourX-500 可先用低倍率扫描，确定键合线的整体分布区域，再切换高倍率聚焦单根键合线，观察其弧度、高度是否符合标准，同时软件支持 “局部放大分析"，框选重点区域就能生成细节数据，不用反复切换视野。
检测微型齿轮时，齿轮齿牙的微小磨损会影响传动精度，设备的高倍率物镜能清晰捕捉齿牙表面的磨损痕迹，甚至能观察到微米级的凹陷，帮助判断齿轮是否达到使用寿命。软件还能自动统计齿牙的尺寸偏差，生成直观的对比报告，不用手动测量计算，减少人为误差。
无论是透明、柔性还是微小样品，ContourX-500 都能通过针对性的设计与功能优化，解决传统检测中的痛点，让复杂样品检测不再 “难操作、难精准"，成为覆盖多类型样品的实用测量工具。布鲁克三维光学轮廓仪复杂样品也能轻松测
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