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Sensofar三维光学轮廓仪多技术融合测量平台Sensofar S neox 0.65X白光干涉仪不只是一台单一功能的测量设备，它创新性地将多种光学测量技术融合在一个平台。
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Sensofar三维光学轮廓仪多技术融合测量平台
Sensofar S neox 0.65X白光干涉仪不只是一台单一功能的测量设备，它创新性地将多种光学测量技术融合在一个平台。这种集成设计让用户无需更换硬件，就能根据样品特性选择适合的测量模式，大大提升了设备的适用性和工作效率。
白光干涉测量模式是这款设备的核心功能之一。该技术使用白光扫描光滑到中等粗糙表面的表面高度，达到纳米级的高度分辨率。它基于白光短相干特性，分光镜将光源分为参考光与测量光，反射后合并产生干涉条纹，系统通过垂直扫描捕捉信号重建形貌。
共聚焦模式则提供了较高的横向分辨率。该技术可以用来测量各类样品表面的形貌。当需要测量局部斜率较大的表面时，共聚焦模式能够保持测量的稳定性。
Ai多焦面叠加模式专为测量非常粗糙的表面形貌而设计。该技术的亮点包括较快的扫描速度、较大的扫描范围和支援斜率大的表面。此功能对工件和模具测量特别有用。
这些测量模式之间的切换十分简便。用户无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现不同模式的切换，使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有多种测量设备的功能。
核心参数表
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | S neox 0.65X |
| 测量模式 | 白光干涉、共聚焦、Ai多焦面叠加 |
| 模式切换 | 软件内自动切换，无需更换硬件 |
| 适用范围 | 光滑表面、粗糙表面、大斜率表面 |
多技术的融合使S neox 0.65X能适应多种表面类型的测量需求。Sensofar三维光学轮廓仪多技术融合测量平台