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Sensofar显微镜:高效测量提升生产效益Sensofar白光干涉共聚焦显微镜,凭借高效测量能力,助力企业缩短检测时间,降低生产成本,提升生产效益。
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Sensofar显微镜:高效测量提升生产效益
在工业生产中,时间就是成本,效率就是竞争力。Sensofar白光干涉共聚焦显微镜以其高效的测量能力,为企业提升生产效益提供了有力支持。
这款显微镜具备快速采集数据的能力。它配备了三种强大的测量技术:干涉技术、共聚焦技术和AI多焦面叠加技术,每种技术都比前一种更快。在半导体制造产线中,对于晶圆表面的检测,传统的检测方式可能需要较长的时间,而Sensofar显微镜利用其高效的扫描机制,能够快速获取晶圆表面的形貌数据。在检测晶圆表面粗糙度、薄膜厚度均匀性等参数时,大大缩短了检测时间,提高了产线的生产效率。
其大范围扩展测量功能也为高效生产提供了保障。拼接功能可以在更大的范围内采集高分辨率数据,创新算法覆盖了整个电动平台范围。系统虽然体积小巧,但却能达到令人印象深刻的测量范围。在大型工件的检测中,如汽车零部件的模具检测,无需频繁移动样品或设备,一次测量就能获取大面积的表面形貌数据,减少了检测次数和时间,提高了检测效率。
Sensofar显微镜的自动化数据分析功能进一步提升了生产效益。配备的SensoMAP高级分析软件支持3D形貌重建、自动缺陷检测及多参数统计等功能。在消费电子产线中,对于手机玻璃盖板等零部件的表面粗糙度与缺陷检测,软件可以自动对采集到的数据进行分析,快速识别出缺陷产品,并生成专业的报告。减少了人工干预,降低了人为误差,提高了检测的准确性和效率。同时,自动化数据分析还可以实现批量检测,进一步缩短了检测周期,满足了产线大规模生产的需求。
此外,Sensofar白光干涉共聚焦显微镜的非接触式测量方式也为企业带来了好处。它避免了传统接触式探针对样品的损伤,尤其适用于超光滑表面和柔性材料的检测。在半导体晶圆检测中,不会对晶圆表面造成划伤等损伤,保证了产品的质量。而且,该显微镜体积小巧,设计紧凑,可以放置在生产车间或实验室的任何地方,适应车间环境直接部署,降低了产线嵌入式检测的成本。
Sensofar白光干涉共聚焦显微镜以其高效的测量能力、自动化数据分析功能和非接触式测量优势,为企业缩短了检测时间,降低了生产成本,提升了生产效益,是企业提升竞争力的重要工具。
Sensofar显微镜:高效测量提升生产效益