布鲁克环境与样品准备要求

ContourX-500布鲁克环境与样品准备要求

1. 振动控制：白光干涉测量对微振动敏感，尤其是垂直方向的振动会直接影响干涉条纹的稳定性，导致测量噪声增大甚至失败。建议将设备安装在稳固的防振平台（如气浮隔振台）上，并尽量远离振源（如大型设备、走廊、门窗）。

   
   

2. 温度稳定性：温度波动会导致设备机械部件发生热胀冷缩，影响扫描精度和重复性。同时，样品本身也可能因温度变化而变形。理想的实验室环境应保持恒温（如20±1°C或根据标准要求），并避免设备受阳光直射或空调出风口直吹。开机后应预热足够时间，使设备内部温度达到平衡。

   
   

3. 气流与洁净度：强烈的空气流动（如风扇、人员频繁走动）可能导致局部空气密度变化，影响光路稳定性。同时，空气中的尘埃若落在光学元件或样品上，会干扰测量。建议在相对洁净、气流平缓的环境中使用，定期清洁设备外壳和样品台。

   
   

4. 光照条件：强烈的环境光（尤其是闪烁的日光灯）可能会被探测器接收，干扰干涉信号。通常在暗室或关闭室内强光条件下测量效果更佳，或使用设备配套的遮光罩。

   
   

5. 电力供应：稳定的电源有助于电子系统（特别是光源和相机）稳定工作。建议使用稳压电源或UPS，避免电压波动和意外断电。

   
   

1. 清洁度：样品表面必须清洁，无灰尘、指纹、油污、水渍或其他污染物。污染物不仅会遮挡真实表面，其自身高度也会被测量进去，导致错误结果。通常需使用无尘布、丙酮、乙醇或专用清洁剂进行清洁，对于精密部件可能需要超声清洗。

   
   

2. 固定与放置：样品必须稳固地固定在样品台上，确保测量过程中无任何移动。对于小样品，需使用合适的夹具或黏土；对于重或大样品，需确保样品台承重足够且平衡。样品表面应尽可能水平放置，以减少因大倾斜带来的测量区域损失和数据处理复杂度。

   
   

3. 反射率适应性：白光干涉需要样品表面有足够的反射光信号。对于高反射表面（如镜面金属），可能需要降低光源强度或使用偏振片来避免信号饱和。对于低反射表面（如黑色橡胶、深色陶瓷），可能需要喷涂一薄层提高反射率的材料（如金粉或白色显像剂），但需注意这会改变原始表面形貌，仅适用于某些定性或对比测量。

   
   

4. 透明与多层样品：对于透明材料（如玻璃、薄膜）或多层结构，来自上下界面的反射光会产生干扰信号。可能需要在其背面涂黑或使用折射率匹配液来抑制背面反射，或采用设备专门的多层膜分析模式。

   
   

5. 表面特性考量：对于非常粗糙（散射严重）或有大倾角/深沟槽的表面，可能会因光线无法返回探测器而导致数据缺失。可能需要尝试使用不同数值孔径（NA）的物镜，或采用多角度测量策略。

   
   

6. 尺寸与形状：确保样品尺寸和重量在设备标称的载物台行程和承重范围内。对于超出视场的大样品，需使用软件的拼接功能。

   
   

建立标准化的样品准备和环境监控程序，并将其作为测量SOP（标准操作规程）的一部分，是实验室或生产现场获得一致、可靠测量结果的最佳实践。花时间做好这些准备工作，往往能事半功倍，避免因环境或样品问题导致的测量失败或数据失真，从而ContourX-500布鲁克的投资回报。

ContourX-500布鲁克环境与样品准备要求