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激光共聚焦显微镜OLS5100技术简述

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激光共聚焦显微镜OLS5100技术简述
奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100是一种基于激光扫描共聚焦光学系统的显微镜,它主要用于样品表面形貌的非接触式观察和三维测量。以下对其涉及的主要技术原理做简要说明。

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更新时间:2026-01-28
厂商性质:代理商
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激光共聚焦显微镜OLS5100技术简述

奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS5100是一种基于激光扫描共聚焦光学系统的显微镜,它主要用于样品表面形貌的非接触式观察和三维测量。以下对其涉及的主要技术原理做简要说明。
核心原理:共聚焦成像
与传统宽场显微镜同时照亮整个视场不同,OLS5100采用点扫描成像方式。其核心是一个“共聚焦"光路设计:
  1. 点照明:激光束通过照明针孔,被物镜聚焦到样品表面一个极小的点上。


  2. 点探测:从样品该点反射(或激发出的荧光)的光信号,再次被物镜收集,并穿过一个被称为“共聚焦针孔"的小孔,最终被探测器(如光电倍增管PMT)接收。


  3. 空间滤波:这个共聚焦针孔是关键。只有从样品焦平面上的点发出的光,才能恰好聚焦通过针孔被高效探测。而从焦平面上下方(非焦点区域)发出的杂散光,则会被针孔阻挡,无法到达探测器。


  4. 二维成像:通过扫描装置(通常为振镜)使激光焦点在样品表面进行X-Y方向逐点或逐线扫描,同步记录每个点对应的光强信号,即可在计算机上重建出一幅二维的共聚焦图像。这幅图像主要反映了样品焦平面一个薄层的信息,具有较好的对比度和轴向分辨率。


三维形貌获取:
为了获得样品表面的三维形貌,系统会控制载物台或物镜在Z轴方向步进移动,在每一个Z轴位置采集一幅X-Y平面的共聚焦图像。这样就得到了一系列沿Z轴分布的光学切片图像。由于共聚焦图像中每一点的亮度反映了该点在对应焦平面上的反射率(或荧光强度),通过检测每一X-Y坐标点上亮度最高的Z轴位置,或通过算法分析焦点位置,系统可以确定该点的表面高度信息。最终,所有点的高度信息合成为样品表面的三维形貌图。
主要技术组件:
  • 激光光源:提供高强度、单色性好的点光源。常用固态激光器,波长例如405nm, 473nm, 532nm, 635nm等,不同波长适用于不同样品材料或荧光染料。


  • 扫描单元:通常采用高速振镜控制激光束在样品上的扫描路径。


  • 共聚焦针孔:一个可调节直径的小孔,用于空间滤波,其大小影响光学切片厚度和图像信噪比。


  • 探测器:接收通过针孔的光信号并转换为电信号,如光电倍增管(PMT),具有高灵敏度和快速响应特性。


  • 高精度Z轴驱动:用于实现焦平面的精确步进移动,以获取Z轴序列图像。


  • 物镜:高质量物镜负责将激光聚焦到样品,并收集返回的光信号。其数值孔径(NA)直接影响系统分辨率。


  • 控制与图像处理计算机及软件:控制整个硬件协同工作,采集图像数据,并进行三维重建、显示、测量和分析。


通过这些技术的结合,激光共聚焦显微镜OLS5100能够实现比传统光学显微镜更清晰的“光学切片"成像,并能获取样品表面的三维形貌数据,为后续的定量分析奠定基础。其技术路径旨在平衡成像质量、测量能力和操作效率。

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