服务热线
17701039158
产品中心
PRODUCTS CNTER
产品分类
相关文章
Sensofar在半导体晶圆薄膜厚度测量中的应用 Sensofar S neox 通过 4‑in‑1 光学技术(共聚焦、白光干涉、多焦面叠加、光谱反射)实现对晶圆薄膜的非接触、亚纳米级厚度测量。以下从测量原理、典型案例、操作流程、数据输出四个维度展开说明。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:150
Sensofar光学轮廓仪在光学元件制造中的应用Sensofar光学轮廓仪智能化检测与分析系统 Sensofar S neox 将共聚焦显微、白光干涉和多焦面叠加三大技术融合在同一平台,实现从超光滑到粗糙表面的全场景测量。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:132
Sensofar光学轮廓仪智能化检测与分析系统 SensoSCAN软件作为S neox的核心配套软件,采用模块化界面设计,支持测量模式选择、参数设置与实时成像。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:166
Sensofar三维光学轮廓仪突破实验室应用限制 S neox具备优异的环境适应性,可在多种复杂环境下稳定工作。设备采用工程塑料与金属支撑结构,兼顾轻量化与抗冲击性能,抗振动性能优异。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:147
Sensofar光学轮廓仪非接触式微观观测新工具 Sensofar三维光学轮廓仪技术规格全面解析 Sensofar S neox 将共聚焦显微、白光干涉和多焦面叠加三大技术融合在同一平台,实现从超光滑到粗糙表面的全场景测量。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:160
Sensofar光学轮廓仪非接触式微观观测新工具 Sensofar S neox 将共聚焦显微、白光干涉和多焦面叠加三大技术融合在同一平台,实现从超光滑到粗糙表面的全场景测量。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
浏览量:151