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Sensofar三维光学轮廓仪在半导体行业的应用 在半导体制造中,S neox通过共聚焦-干涉协同测量技术,实现了焊点高度、直径与倾斜角的高精度同步检测。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
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Sensofar轮廓仪从定位到批量检测的完整流程 作S neox需遵循标准化流程以确保检测精度。首先清洁样品台并固定样品,通过触控屏启动预览功能框选检测区域。
更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
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Sensofar共聚焦干涉轮廓仪稳定测量结构支撑 S neox系列分为基础版、进阶版与定制版三大型号,形成从通用检测到行业专项的完整解决方案。
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产品型号:S neox
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更新时间:2026-01-07
产品型号:S neox
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更新时间:2026-01-07
产品型号:ContourX-500
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