ZYGO精密制造质量监控 在精密制造过程中，对零件表面质量进行监控是保证产品性能的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够对加工表面进行三维形貌测量，为制造过程的质量控制提供数据支持。该设备在精密制造行业有应用实例，能够为质量监控工作提供一种测量方法。

ZYGO材料表面研究工具 材料表面特性影响材料的多种性能。对表面形貌进行观察和分析，是材料研究的一个方面。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够获取材料表面的三维形貌信息，为表面结构与性能关系的研究提供工具。该设备在材料科学研究领域有应用案例。

ZYGO光学元件面形检测 光学元件的面形精度影响光学系统的成像质量。对面形误差进行检测，是光学制造中的重要环节。

ZYGO半导体工艺中的测量 半导体制造对工艺控制有严格要求，表面测量是工艺监控的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪在半导体工艺中可用于测量晶圆表面的薄膜厚度、图形结构、缺陷等特征，为工艺开发和质量管理提供测量数据。该设备在半导体行业有应用案例。

ZYGO表面粗糙度量化分析 表面粗糙度是评价表面质量的重要参数。对粗糙度进行量化分析，有助于理解表面特性与功能性能的关系。

ZYGO非接触式测量方案 在表面测量中，非接触式方法因其不损伤样品的特性而受到关注。ZYGO Nexview NX2采用光学干涉原理，实现了对样品表面的非接触三维测量。该方案在精密零件检测、光学元件评估、半导体工艺监控等场景中有应用实例，为表面质量控制提供了测量选择。