西班牙Sensofar三维共焦白光干涉光学轮廓仪

Sensofar S neox：开启三维共焦白光干涉测量新时代

在科学研究与工业生产的广袤领域中，高精度的表面测量技术始终是推动创新与进步的关键力量。西班牙 Sensofar 公司匠心打造的 S neox 三维共焦白光干涉光学轮廓仪，宛如一颗璀璨的明星，凭借其性能、创新的技术和广泛的适用性，在众多测量设备中脱颖而出，为各行业带来了测量体验与解决方案。

一、突破速度极限，大幅提升效率

S neox 在设计之初便将速度提升作为核心目标，通过采用全新智能且独算法，搭配新型相机，成功实现了数据采集速度高达 180fps 的惊人突破。相较于以往的测量系统，其标准测量采集速度快了 5 倍之多，一跃成为市场上速度最快的表面测量系统。在科研项目中，时间就是进展的保障，S neox 能够在短时间内获取大量精确数据，极大地提高了实验效率，助力科研人员更快地推进项目进程。在工业生产的质量检测环节，快速的测量速度意味着能够在更短时间内完成更多产品的检测，有效提升生产效率，降低生产成本。

二、四合一测量技术，铸就强大多功能性

Sensofar 的四合一测量技术堪称 S neox 的一大核心亮点。在其传感器头中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种先进测量技术。只需轻松点击一次，系统便能依据当前测量任务的具体需求，自动智能地切换到最为适配的最佳技术。这种强大的多功能性使得 S neox 能够轻松应对几乎所有类型的表面形貌测量，无论是不同材质、结构，还是表面粗糙度和波度的测量，它都能精准胜任。在半导体制造领域，对于芯片表面微纳结构的测量，共聚焦技术可发挥其高横向分辨率的优势，实现临界尺寸的精确测量；而对于光学镜片表面的平整度检测，干涉技术又能凭借其纳米级的纵向分辨率，提供高精度的测量结果。

三、高精度测量，保障数据可靠性

对于科研和工业应用而言，测量精度无疑是至关重要的。S neox 在精度方面表现，共聚焦技术的横向分辨率可达 0.10um，能够清晰分辨样品表面的细微结构，为关键尺寸的测量提供了可靠保障。其共聚焦算法确保了 Z 轴测量重复性处于纳米范畴，在进行高精度表面高度测量时，能够提供稳定且准确的结果。白光干涉技术作为一种纳米级测量精度的表面高度形貌测量技术，在任何放大倍数下都能保证纳米级的纵向分辨率，能够精准还原各种表面的真实形貌。在材料研究中，对于材料微观表面的粗糙度和微观结构的测量，S neox 的高精度测量性能能够为研究人员提供准确的数据支持，助力深入了解材料性能与微观结构之间的关系。

四、创新设计，测量新体验

S neox 的测量头采用了无运动部件的创新设计，这一设计极大地提升了系统的长期稳定性和测量重复性。无需担心因运动部件的磨损而影响测量精度，为用户提供了更加可靠的测量保障。同时，该仪器配备了四个具有长使用寿命的 LED 光源，不仅避免了激光光源可能产生的散斑现象，而且其使用寿命长达约 50000 小时，是激光光源的约 25 倍。多个 LED 光源还能根据样品的不同需求，灵活选择最合适的波长进行测量，进一步提升了测量的准确性和适应性。在搭配 SensoSCAN 软件系统后，用户能够享受到难以置信的直观操作体验，从设备的基本操作到高级功能的应用，都能轻松上手，大大降低了操作门槛，提高了工作效率。

Sensofar S neox 三维共焦白光干涉光学轮廓仪以其在速度、多功能性、精度和设计等方面的表现，为半导体、光学加工、材料研究、生物医学等众多领域提供了强大而可靠的测量解决方案。它不仅能够满足当前各行业对于高精度表面测量的严苛需求，更为未来的科研探索与工业创新提供了坚实的技术支撑。相信在 S neox 的助力下，各行业将在微观世界的探索中迈出更加坚实的步伐，取得更多突破性的成果。

4、轻松定位样品

XY 平台的行程范围达125 mm x 75 mm，可轻松放置及定位样品，并使用与光轴完*对齐的尖*倾斜平台轻松调平样品。

5、多种物镜选择

在操作过程中，可使用6位电动鼻轮随时切换物镜，体验无限可能。从多种兼容镜头中进行选择，包括具有长焦镜头和水镜等特定选项。

西班牙Sensofar三维共焦白光干涉光学轮廓仪