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sensofar白光干涉仪:检测薄膜厚度

产品简介

sensofar白光干涉仪:检测薄膜厚度,的四合一测量技术堪称 S neox 的一大核心亮点。在其传感器头中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种*测量技术。只需轻松点击一次,系统便能依据当前测量任务的具体需求,自动智能地切换到最为适配的优良技术。

产品型号:S neox
更新时间:2025-07-15
厂商性质:代理商
访问量:124
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sensofar白光干涉仪:检测薄膜厚度

西班牙Sensofar公司推出的S neox共聚焦模式白光干涉仪,是一款集成了共聚焦、干涉和多焦面叠加技术的三维光学轮廓仪,广泛应用于科研、质量检测和生产过程控制等领域。该设备以其高精度、多功能性和非接触式测量特性,成为表面形貌测量领域的。

一、S neox共聚焦模式的核心特点

1. 共聚焦模式

共聚焦模式是S neox的核心功能之一,其主要优势在于提供高横向分辨率(可达0.10μm),适用于临界尺寸测量。该模式通过共聚焦显微镜技术,能够实现对光滑表面的高精度测量,并且在测量过程中无需移动部件,从而确保了测量的稳定性和重复性。此外,S neox采用高数值孔径(NA=0.95)和高放大倍率(150X和200X)的物镜,能够测量斜率超过70°的表面,适用于高陡表面的测量

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2. 真彩色共聚焦图像

S neox在共聚焦模式下,能够生成真彩色图像,每个像素点还原真实色彩,色彩保真度高。这种技术通过红、绿、蓝三色LED交替照明,并将三张单色图像合成一幅高分辨率的彩色图像,相比其他品牌采用像素插值算法的方式,S neox的图像质量更胜。

3. 超清晰细节

S neox配备了高分辨率摄像头(2560x1440像素),能够呈现共聚焦图像的超清晰细节,使用户能够清晰地观察表面的微小结构

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二、S neox的多技术融合

S neox不仅具备共聚焦模式,还集成了干涉和多焦面叠加技术,使其在不同应用场景中具有灵活性和适应性。

1. 干涉模式

干涉模式提供亚纳米级精度的纵向分辨率,适用于光滑表面的高度测量。该模式通过白光干涉技术,能够测量纳米级的表面形貌,适用于各种光滑表面的测量。此外,S neox还支持多波长LED光源(红、绿、蓝、白),以满足不同应用需求

2. 多焦面叠加模式

多焦面叠加模式是S neox的一大亮点,它能够在短时间内完成对非常粗糙表面的测量。该模式通过快速扫描和大扫描范围,能够测量斜率高达86°的表面,适用于工件和模具的测量。此外,该模式还支持AI算法,能够自动合并多个焦面的图像,生成完整的3D表面形貌

3. 无运动部件设计

S neox的测量头内无运动部件,采用Microdisplay共聚焦扫描技术,避免了机械振动带来的测量误差。这种设计不仅提高了测量的稳定性,还延长了设备的使用寿命

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三、S neox的应用领域

S neox因其高精度和多功能性,被广泛应用于多个领域,包括但不限于:

半导体制造:用于测量晶圆的表面粗糙度、台阶高度和孔内深度。

生物医学:用于测量生物材料的表面形貌和纳米压力传感器的初始偏转。

微电子与电子消费产品:用于测量微通道、激光结构和功能纹理。

古生物学:用于分析工具的使用痕迹和微磨损。

能源与汽车:用于测量电池表面纹理和模具尺寸。

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四、S neox的技术优势

高精度:S neox在共聚焦模式下提供0.10μm的横向分辨率,干涉模式下提供亚纳米级的纵向分辨率,多焦面叠加模式下提供纳米级的测量精度。

高速度:S neox的数据采集速度可达180 fps,是市场上速度最快的表面测量系统之一

多功能性:S neox支持多种测量模式,能够适应不同类型的表面形貌测量需求。

非接触式测量:S neox采用非接触式测量技术,避免了对样品的损伤,适用于各种敏感材料的测量

用户友好:S neox配备了SensoSCAN、SensoPRO和SensoMAP等软件,提供直观的操作界面和强大的数据分析功能

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五、S neox的市场表现与支持

S neox自推出以来,因其性能和可靠性,受到了全球用户的广泛认可。Sensofar公司作为共聚焦干涉显微镜的发明者,将共聚焦和干涉技术结合,无需额外硬件即可自动切换模式,使客户能够同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪的功能。此外,S neox还提供整机质保期1年,安装调试现场免费培训,电话支持响应时间24小时内,维修响应时间3天内,以及维保合同等售后服务。

六、总结

西班牙Sensofar的S neox共聚焦模式白光干涉仪是一款集成了共聚焦、干涉和多焦面叠加技术的三维光学轮廓仪,以其高精度、多功能性和非接触式测量特性,成为表面形貌测量领域的。无论是科研机构还是工业生产领域,S neox都能提供测量解决方案,满足各种复杂的应用需求

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