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Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

产品简介

Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率Sensofar 表面轮廓仪 S neox的光学干涉技术Sensofar 白光干涉S neox仪高数值孔径物镜 的一大核心亮点。在其传感器头中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面叠加和膜厚测量等多种*测量技术。只需轻松点击一次,系统便能依据当前测量任务的具体需求,自动智能地切换到较为适配的优良技术。

产品型号:
更新时间:2025-07-15
厂商性质:代理商
访问量:140
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Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

一、白光干涉的核心原理

Sensofar S neox的白光干涉技术基于Michelson干涉仪架构,其核心流程如下:

光源与分光:宽带光源(480-680nm波长范围)发出的光经分束棱镜分为两束:一束射向样品表面,另一束射向参考镜。

干涉形成:两束反射光重新汇合时,若光程差小于光源相干长度(约2-3μm),则产生明暗交替的干涉条纹。

形貌重建:通过压电陶瓷(PZT)驱动样品台进行Z轴扫描,捕捉每个像素点干涉波包的峰值位置,将其转换为高度信息,最终合成3D表面形貌。

技术优势:

亚纳米级分辨率:纵向分辨率达0.1nm(理论值),实际测量精度±0.3nm;

非接触测量:避免划伤超光滑表面(如光学镜片、晶圆);

宽适用性:可测表面从镜面(Sa<0.2nm)到中等粗糙度(Ra<1μm)。

Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

二、相位移干涉(PSI)与八部位移法的突破

1. 标准PSI技术

原理:通过PZT精确移动参考镜,引入可控相位差(步长π/2),采集多帧干涉图(通常7帧)。

算法解算:利用反正切函数计算相位分布:ϕ=arctan

 为第n帧光强。

局限:仅适用于连续光滑表面(粗糙度<λ/20),对台阶、陡坡结构易产生相位跳变误差。

2. 八部位移法(Extended PSI)

为突破传统PSI限制,Sensofar开发了八部位移法:

多步长扫描:采集8帧干涉图(步长仍为π/2),结合频域分析与自适应滤波;

相位解包裹优化:通过傅里叶变换分离噪声,精准重建不连续表面的真实相位;

性能提升:

粗糙度容忍度提升至λ/2(如50μm台阶测量);

抗环境振动能力增强,实测重复性±0.15nm(1σ)。

Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

三、关键技术创新

干涉物镜设计

Mirau/Linnik双架构:Mirau物镜适用于常规测量,Linnik物镜解决高NA物镜的分光难题,支持100X放大下的纳米测量;

参考镜调节环:微调参考镜位置,确保全光谱范围内干涉精度(尤其针对多波长光源)。

环境抗干扰系统

实时温度补偿:内置传感器修正空气折射率变化,消除热漂移误差;

动态对焦锁定:闭环控制Z轴平台,振动环境下仍保持亚纳米稳定性。

多模式协同测量

EPSI技术:融合PSI与白光干涉(CSI),在百微米量程内保持0.1nm分辨率,覆盖从超光滑到粗糙表面的全范围测量。

四、典型工业应用场景

Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

半导体薄膜厚度测量

案例:二氧化硅掩膜厚度(40-80nm)测量,精度±1nm,替代传统触针轮廓仪(噪声5nm RMS);

技术实现:反射光谱法结合多层膜模型拟合(图:模型显示84±1nm厚度)。

光学元件面形检测

精度:面形误差PV值<λ/45(λ=633nm),粗糙度Sa<0.2nm;

多层镀膜分析:同步测量膜厚均匀性(99.2%)与表面瑕疵。

医疗植入物表面优化

案例:钛合金关节微孔结构测量,量化孔径分布(50-120μm)与表面取向,生成ISO 10993合规报告;

技术选择:共聚焦+干涉联用,解决高反射金属表面的干涉噪声。

Sensofar S neox干涉技术亚纳米级分辨率

五、总结:技术壁垒与行业价值

Sensofar S neox的白光干涉系统通过八部位移法革新与多模式协同设计,解决了传统干涉技术在不连续表面测量中的根本性局限。其价值体现在:

精度极限:亚纳米级分辨率满足半导体、光学领域的超精密标准;

效率提升:单次扫描完成复杂形貌重建(如123×128mm²晶圆两分钟成像);

跨行业适配:从晶圆厂(薄膜测量)到医疗实验室(植入物粗糙度分析),提供统一的纳米尺度计量方案。

未来,随着AI实时相位解算与超快扫描模块的开发,该技术将进一步推动制造向原子级精度迈进

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