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Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度

产品简介

Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度当一块半导体晶圆上的纳米级缺陷可能导致整个芯片失效,当 PCB 板上 0.1 微米的通孔误差会影响航天器通信系统,当心脏支架表面的粗糙度直接关系到患者生命安全 —— 精密制造领域的每一个维度都在呼唤更精准、更高效的测量技术。来自西班牙的 Sensofar 集团,以其革命性的共聚焦白光干涉测量技术,正在重新定义全球计量工具的标准。

产品型号:S neox
更新时间:2025-08-05
厂商性质:代理商
访问量:122
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Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度

精密制造时代的测量范式革命:Sensofar 共聚焦白光干涉仪的技术突破与产业价值

当一块半导体晶圆上的纳米级缺陷可能导致整个芯片失效,当 PCB 板上 0.1 微米的通孔误差会影响航天器通信系统,当心脏支架表面的粗糙度直接关系到患者生命安全 —— 精密制造领域的每一个维度都在呼唤更精准、更高效的测量技术。来自西班牙的 Sensofar 集团,以其革命性的共聚焦白光干涉测量技术,正在重新定义全球计量工具的标准。作为总部位于巴塞罗那科技核心区的跨国企业,Sensofar 凭借覆盖 30 多个国家的服务网络和亚洲、美洲、欧洲的本地化团队,将光学计量的前沿成果转化为半导体、医疗、电子等产业的生产力跃升引擎。

Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度


三元技术融合:重新定义精密测量的可能

Sensofar 的突破性创新在于将共聚焦、白光干涉与 Ai 多焦面叠加三项技术无缝集成于单一测量头,创造出传统设备的适应性。这种 "三位一体" 的技术架构,源于公司对不同材料表面特性的深刻理解 —— 从抛光晶圆的纳米级平整度到航空发动机叶片的复杂曲面,从透明薄膜的层间结构到生物材料的柔弹性表面,单一设备即可完成从前需要多台仪器的测量任务。
以旗舰产品 S neox 为例,其横向分辨率可达 0.14μm,纵向精度更是突破 0.1nm 极限,相当于能识别一根头发丝直径的百万分之一。这种精度并非实验室里的理论值:河北工业大学*材料测试中心使用 S neox 对金属、复合材料及半导体器件进行表征,其亚纳米级粗糙度分析能力为材料研发提供了关键数据支撑。而针对工业在线检测场景设计的 Sonix 系统,通过高速摄像头与优化光学设计,将测量速度提升至传统干涉系统的 7 倍,在保持 0.1nm 垂直分辨率的同时,实现大批量生产的实时质量监控。
Smart 2 则展现了紧凑设计与强大功能的平衡。这款仅 5.3kg 的测量头内置计算核心,支持 14 米远距离布线,可直接集成于自动化生产线。其的自动对焦与参数优化功能,让操作员无需专业培训即可完成高精度测量 —— 从汽车零部件的粗糙度检测到消费电子玻璃盖板的划痕分析,只需一键操作便能生成符合 ISO 25178 标准的定制化报告。


Sensofar 白光干涉仪从纳米尺度到工业尺度

跨行业的测量解决方案:从纳米尺度到工业尺度

在半导体制造领域,Sensofar 的技术正解决着最棘手的质量控制难题。当晶圆切割进入微米级精度要求时,S neox 的 EPSI 技术结合 Cross Kerf 插件,能自动分析切割深度、槽宽均匀性等关键参数,确保每一片芯片的切割质量达标。其 50X 物镜下 0.21μm 的光学分辨率,足以识别 7nm 工艺节点下的电路缺陷,而 34mm 的 Z 轴测量范围又能满足从晶圆到封装的全流程检测需求。
印刷电路板 (PCB) 行业则受益于 Sensofar 对复杂结构的测量能力。针对高纵横比通孔(1:20)的检测挑战,SensoPRO 孔插件可自动生成 19 项表征参数,通过容差设置实现合格 / 不合格的快速判断。对于填充孔凹陷这一行业痛点,专用 Dimple 插件能精准识别连接点区域的高度变化,为高密度电路板的可靠性提供数据保障。这种从测量到分析的闭环能力,将传统需要数小时的检测流程缩短至分钟级。
医疗器件制造更能体现 Sensofar 技术的人文价值。其 Q vix pivot 系统专为心脏支架和瓣膜框架设计,非接触式测量避免了对精密医疗器械的潜在损伤,而 0.1nm 的精度确保了支架表面纹理符合人体植入标准。在人工关节表面粗糙度检测中,多焦面叠加技术能捕捉 86° 的陡峭斜率,完整还原复杂曲面的形貌特征,为患者舒适度提供科学依据。
效率与生态:超越测量的价值创造
Sensofar 的创新不止于硬件性能,更在于构建了从测量到决策的完整生态系统。Sonix 系统搭载的 5 倍速扫描技术,将传统干涉仪需要 30 分钟的测量缩短至 6 分钟,配合 180fps 的高速相机,使生产线的 100% 全检成为可能。这种效率提升在消费电子行业尤为关键 —— 当每秒钟都有上百部智能手机下线时,Sensofar 的在线检测方案能实时拦截缺陷产品,将不良率降低至 ppm 级别。
软件平台是 Sensofar 生态的核心竞争力。SensoVIEW 提供直观的 3D 可视化界面,即使是非专业人员也能快速掌握表面形貌特征;SensoPRO 则针对不同行业开发专用插件,从 PCB 的凹陷分析到半导体的键合线检测,从薄膜厚度测量到划痕识别,实现 "测量即分析" 的自动化流程。河北工业大学的用户反馈显示,这种模块化软件架构使研究人员能将更多精力投入材料创新,而非数据处理。
作为精密制造的 "标尺",Sensofar 的技术正在推动整个产业链的精度升级。在半导体领域,其纳米级测量能力支持 7nm 以下制程的研发;在新能源行业,电池极片的粗糙度分析帮助提升能量密度;在航空航天领域,发动机叶片的轮廓检测直接关系到飞行安全。正如 Sensofar 集团的使命所强调的,通过*计量技术的普及,让每一个制造环节都能实现可量化、可追溯的质量控制。
从巴塞罗那的研发中心到亚洲的生产基地,从大学实验室的基础研究到工厂车间的在线检测,Sensofar 共聚焦白光干涉仪正以 "微米级视野,纳米级精度" 重塑制造业的质量标准。当精密成为竞争的核心要素,选择 Sensofar 不仅是添置一台测量设备,更是拥抱一种的制造精度哲学 —— 在这里,每一个纳米的差异都能被感知,每一次微小的改进都能被量化,最终推动人类制造能力向更微观、更的领域不断探索。


结语:干涉测量的技术代际跨越

S neox的干涉体系以光波为尺、算法为眼,在PSI的亚埃级精度与CSI的工业鲁棒性间取得平衡。其八部位移法的相位解析精度、EPSI的跨尺度能力,以及REC环境补偿,共同构成纳米计量界的“干涉三角定律"。未来随着计算光学迭代,干涉技术将从“形貌复现"迈向“工艺预测",成为智能制造的微观决策中枢

Sensofar白光干涉:不受反光材料的影响

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