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产品简介
在现代科研与工业生产中，对于高精度表面测量的需求与日俱增。从微观尺度的芯片制造，到宏观领域的机械零部件加工，精确获取物体表面的轮廓、粗糙度、纹理等信息，是确保产品质量、推动技术创新的关键环节。Sensofar 公司推出的 S neox 3D 光学轮廓仪，凭借其前沿的技术、出色的性能以及广泛的适用性，成为众多行业进行表面测量分析的得力助手。Sensofar S neox：3D 光学轮廓测量的选择
产品分类
四合一技术协同：S neox 集成了共聚焦、白光干涉、主动照明多焦面叠加（AI 焦点变化）以及反射光谱等四种优良的光学测量技术。共聚焦技术利用物镜共焦平面处的孔径，阻挡离焦光线进入成像系统，精准捕捉样品的聚焦平面，通过机械或数字扫描孔径，能够获取清晰的 2D 轮廓和 3D 表面图像。白光干涉技术则借助干涉仪两臂（参考臂与样品臂）反射光的光程差，生成空间干涉条纹，以此精确测量表面高度信息，在测量光滑表面时具有的精度。AI 焦点变化技术通过垂直扫描光学元件或样品，获取一系列表面图像，运用算法确定各帧中的聚焦点，进而构建完整的聚焦图像，即使在光学光滑表面也能实现可靠的焦点定位。反射光谱技术从另一个维度提供关于样品表面材质及特性的信息，多种技术相互补充，无论面对何种复杂表面，S neox 都能应对自如。Sensofar S neox：3D 光学轮廓测量的选择
智能算法与高速相机驱动：搭载全新的智能且算法，配合高性能新型相机，S neox 在数据采集速度上实现了飞跃。数据采集帧率高达 180fps，标准测量采集速度相比前代产品提升了 5 倍之多，使其成为市场上速度面测量系统。快速的数据采集不仅提高了工作效率，在对动态过程或需要大量测量数据的场景中，更能完整、准确地捕捉表面信息，避免因采集速度慢导致的数据缺失或偏差。白光干涉仪
高精度测量保障：能够在不同尺度下对各类纹理、结构、粗糙度和波度进行精确测量。无论是纳米级别的微观表面特征，如半导体芯片上的电路线条粗糙度测量，还是毫米级别的宏观表面轮廓检测，如精密机械零件的表面平整度评估，S neox 都能提供极其准确的测量结果。其测量精度可满足科研领域对新材料表面特性研究的严苛要求，也能在工业生产中为质量控制提供可靠依据，确保产品符合高精度标准。
宽测量范围覆盖：适用于各种高精度表面测量应用场景，从超光滑的光学镜片表面，到具有复杂纹理的生物组织样本，或是具有特殊结构的功能性材料表面。例如在光学领域，可对镜片表面的亚纳米级缺陷进行检测；在生物医学研究中，能分析细胞表面的微观结构；在材料研发中，针对具有特殊纹理以增强性能的材料，S neox 能全面测量其表面特征，为材料性能优化提供数据支持。
用户友好的操作体验：Sensofar 致力于为客户提供使用体验，S neox 的第五代系统在操作便捷性上达到了新高度。即使是初次接触的用户，也能通过简单的一键操作轻松掌控系统。软件模块经过精心设计，可根据用户需求进行定制化配置，无论是基础的表面粗糙度测量，还是复杂的 3D 表面重建分析，都能通过相应的软件功能快速实现。同时，系统还具备操作员访问权限控制、测量流程配方设置、与条形码 / QR 码读取器的兼容性以及可定制插件等功能，方便在质量控制环境中实现自动化操作，生成详细的通过 / 失败报告，大幅提高工作效率。
广泛的行业应用：在质量控制方面，S neox 的自动化模块和灵活易用的界面，使其能够轻松融入 24/7 不间断运行的生产环境。无论是电子产品制造中的零部件表面检测，还是汽车工业中发动机缸体、活塞等关键部件的表面质量把控，都能通过预设程序快速、准确地进行测量和评估，及时发现生产过程中的质量问题，降低次品率。在研发领域，科研人员利用 Sensofar 的 “3 合 1" 操作方式，在 Sensoscan 软件中一键切换系统至当前任务的测量技术，为材料科学、生物医学工程、微纳制造等多学科研究提供了强大的表面分析工具。例如在材料相变研究中，实时观测材料表面在不同温度、压力条件下的微观结构变化；在生物医学领域，研究细胞在不同培养条件下的表面形态改变，为疾病诊断和治疗方案的开发提供基础数据。