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PRODUCTS CNTERSensofar S neox“四维协同"重塑微观世界作为Sensofar第五代干涉共焦显微镜,S neox系列突破传统单一技术局限,通过共聚焦扫描、白光干涉、相位差干涉、AI多焦面融合四大模式协同工作,实现从粗糙表面(Ra>10μm)到超光滑表面(Ra<0.1nm)的全场景覆盖。
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作为Sensofar第五代干涉共焦显微镜,S neox系列突破传统单一技术局限,通过共聚焦扫描、白光干涉、相位差干涉、AI多焦面融合四大模式协同工作,实现从粗糙表面(Ra>10μm)到超光滑表面(Ra<0.1nm)的全场景覆盖。Sensofar S neox“四维协同"重塑微观世界其核心价值在于:
一机多用:无需硬件更换,软件一键切换测量模式,降低设备采购成本;
智能自适应:根据样品特性自动优化光源波长、入射角度及算法,减少人工干预;
抗干扰设计:搭载实时环境补偿算法(REC),在普通实验室振动条件下(>100nm)仍可稳定输出数据。
参数项 | S neox标准型 | S neox Five Axis(五轴型) |
---|---|---|
横向分辨率 | 0.12μm(共聚焦模式) | 0.10μm(高NA物镜) |
纵向分辨率 | 0.1nm(白光干涉模式) | 0.05nm(相位差干涉模式) |
最大测量范围 | 150mm×150mm(电动平台) | 300mm×300mm(五轴旋转台) |
最大斜率测量 | 86°(融合共聚焦模式) | 88°(配合五轴旋转台) |
数据采集速度 | 180帧/秒(500万像素CMOS传感器) | 250帧/秒(高速相机选配) |
软件功能 | SensoSCAN基础版(含ISO 25178/4287分析) | SensoMAP Pro(支持AI缺陷识别与数字孪生) |
Microdisplay共焦技术:扫描头内无运动部件,消除机械振动对精度的干扰,寿命提升至10万小时;
连续共聚焦扫描:通过同步面内与Z轴扫描,将传统共聚焦速度提升3倍,15×15mm区域扫描仅需42秒;
三波长干涉场重建:单次扫描同步获取表面形貌、膜厚分布(0.1nm分辨率)、材料折射率及真色彩光学特征。
光学系统:采用德国肖特超低色散玻璃与日本滨松高功率LED光源,光路稳定性优于λ/20(波长/20);
机械结构:航空级铝合金框架搭配大理石基座,抗振动干扰能力提升50%,适应洁净车间、生产线等复杂环境;
防护设计:IP54防护等级,关键部件(如物镜、电动平台)采用密封设计,通过ISTA 3A运输测试标准。
检测晶圆表面亚表面损伤层厚度,定位精度达0.5μm;
评估刻蚀均匀性,支持米级长度在线全检。
非接触式测量极片涂层厚度一致性,避免探针划伤风险;
实时监测隔膜微孔结构,优化电解液浸润效率。
分析人工关节羟基磷灰石涂层的孔隙率与结晶度,预测植入物寿命;
捕捉细胞培养基底表面形貌对细胞生长的影响(如干细胞分化导向)。
测量涡轮叶片表面粗糙度(Ra=8.3μm),量化喷砂处理工艺参数;
检测复合材料内部缺陷(如分层、孔隙),支持CT数据融合分析。
定制化包装:高密度泡沫内衬+防震木箱,通过ISTA 3A运输测试,确保设备在长途运输中免受冲击;
配件清单:标准物镜套装(2.5×-100×)、校准样块、SensoSCAN软件授权、操作手册与快速指南;
可选配模块:12英寸自动晶圆台、高温原位测量舱(最高800℃)、五轴旋转台。
安装调试:由Sensofar认证工程师提供现场安装与光路校准服务,确保设备达到出厂精度标准(纵向精度±0.5nm);
操作培训:通过线上课程与线下实操结合,覆盖软件参数设置、测量模式选择、数据分析报告生成等全流程;
日常维护:提供每日清洁、季度校准、年度保养的标准化流程,延长设备使用寿命。
从哈佛大学量子点薄膜的原子级堆叠分析,到特斯拉超级工厂每分钟30个电池极片的涂层厚度检测,Sensofar S neox正以“四维协同"技术重新定义表面测量标准。其价值不仅在于数据精度,更在于将不可见转化为可量化,将经验判断升维至数据决策——这正是工业4.0时代对微观分析的核心需求。Sensofar S neox“四维协同"重塑微观世界