在科学研究与工业生产的微观领域,精准测量与成像始终是推动发展的关键因素。Sensofar S neox 作为一款前沿的光学轮廓仪,以其性能、创新的技术和广泛的适用性,为众多行业带来了全新的解决方案,正逐步成为微观测量领域的。Sensofar S neox:开启微观世界的精准之眼
产品细节图剖析
Sensofar S neox 拥有紧凑而坚固的机身设计,整体线条流畅,彰显着专业与精致。从产品细节图中,我们可以清晰地看到其传感器头部,这是设备的核心部件之一。该部分集成了多种*的光学测量技术模块,包括共聚焦、干涉 ometry 和 AI 焦点变化等,各模块紧密协作,确保了对不同表面特性样本的精准测量。设备的操作面板简洁直观,配备了高分辨率的显示屏,实时呈现测量数据与图像,操作按键布局合理,即使是初次上手的用户也能快速熟悉。其机身采用高品质的工程塑料与金属材质相结合,既保证了良好的散热性能,又增强了设备的耐用性,可适应多种复杂的工作环境。
产品
高速测量
S neox 凭借全新的智能算法和高性能相机,实现了惊人的数据采集速度,可达 180 帧 / 秒。标准测量采集速度相比前代产品提升了 5 倍之多,在市场上同类产品中脱颖而出,极大地提高了工作效率,使您无需长时间等待,就能快速获取精准的测量结果,满足快节奏工作场景的需求。
高分辨率成像
无论面对多么微小的表面特征,S neox 都能清晰捕捉。其*的光学系统与算法,能够提供分辨率,让微观世界的细节无所遁形。无论是纳米级的表面粗糙度,还是微米级的结构特征,都能在成像中精准呈现,为科研人员和工程师提供了可靠的数据基础。
多技术融合优势
通过集成共聚焦、干涉 ometry 和 AI 焦点变化三种核心测量技术,S neox 具备了强大的适应性。共聚焦技术利用物镜焦平面处的光阑,有效阻挡离焦光线,精准捕捉样本的聚焦平面,获取清晰的 2D 轮廓和 3D 表面图像;干涉 ometry 技术借助干涉仪两臂(参考臂与样本臂)反射光的光程差,实现高精度的表面形貌测量;AI 焦点变化技术则通过垂直扫描光学元件或样本,利用算法确定各帧中的聚焦点,构建完整图像,即使在光学光滑表面也能获得可靠的聚焦位置。三种技术相辅相成,使设备能够在各种复杂样本的测量中发挥出色。
优质用材打造可靠品质
在机身主体部分,Sensofar S neox 选用高强度、轻量化的工程塑料,具备良好的抗冲击性能和化学稳定性,能够抵御日常使用中的轻微碰撞和常见化学试剂的侵蚀。同时,内部关键的光学组件采用高品质的光学玻璃材料,经过精密研磨和镀膜处理,确保光线在传输过程中的低损耗与高稳定性,为实现高精度的光学测量提供坚实保障。金属材质则主要应用于设备的支撑结构与关键连接部位,增强了整体的结构刚性,确保在长时间使用过程中,设备各部件始终保持精准的相对位置关系,不影响测量精度。
详细参数一览
丰富型号满足多元需求
S neox Standard
基础款型号,配备了核心的测量技术模块,适用于常规的微观表面测量任务,如一般材料表面粗糙度检测、小型零部件的尺寸测量等,为预算有限但有基础微观测量需求的用户提供了高性价比选择。
S neox Pro
在 Standard 基础上,进一步提升了硬件性能,如配备更高分辨率的相机、更稳定的光学组件,增强了测量精度与数据处理能力。适用于对测量精度要求较高的科研项目,以及电子工业中精密芯片、元器件的检测工作。
S neox Advanced
作为旗舰型号,集成了技术与配置,不仅具备测量精度,还拥有丰富的软件拓展功能与自动化测量流程。可满足科研机构对复杂材料微观结构的深入研究,以及航空航天、精密制造等行业对超精密零部件的严苛检测需求。同时,S neox 还提供如五轴联动版本(S neox FIVE AXIS)等特殊配置,满足特定应用场景下对多角度、复杂形状样本的测量需求。
广泛用途覆盖多领域
材料科学研究
在材料研发过程中,S neox 可用于观察新材料的表面形貌、晶体结构,测量材料的粗糙度、孔隙率等参数,为材料性能的优化提供关键数据。帮助科研人员深入了解材料特性,加速新型材料的研发进程。
电子工业检测
对于半导体芯片、电路板、电子元器件等,S neox 能够进行高精度的尺寸测量、表面缺陷检测,确保产品质量符合严格的行业标准。在芯片制造的光刻、蚀刻等关键工艺环节,为工艺监控与质量控制提供有力支持。
生物医学领域
在生物样本的微观成像方面,S neox 可用于观察细胞形态、生物组织的微观结构,助力医学研究人员探索生命奥秘,为疾病诊断、药物研发等提供微观层面的依据。例如,在细胞培养实验中,精准测量细胞的生长状态与形态变化。
精密制造行业
从航空航天零部件到车发动机的关键部件,S neox 能够对精密加工后的零件表面进行检测,测量加工精度、表面纹理等,确保零部件的性能与可靠性,提升产品整体质量。
贴心包装保驾护航
Sensofar S neox 采用定制化的坚固包装方案。外部为厚实的硬纸箱,具备良好的抗压能力,有效防止运输过程中的挤压损伤。内部则填充高密度、抗震性能泡沫材料,紧密贴合设备轮廓,为设备提供缓冲保护。包装内除了设备主机外,还配备齐全的配件,包括电源线、数据线、校准工具、备用光学部件等,并附带详细的使用说明书、保修卡与快速入门指南。包装上清晰标注产品型号、名称、生产厂家、运输注意事项等关键信息,确保设备在运输过程中的安全与可追溯性。
使用说明简明易懂
设备安装
将 S neox 放置在平稳、减震的工作台上,避免阳光直射与强磁场干扰。按照说明书连接好电源线与数据线,确保各接口连接牢固。初次使用时,需根据环境温度与湿度条件,对设备进行短暂的预热与校准操作,以保证测量精度。
样本准备
根据样本特性,选择合适的固定方式,确保样本在测量过程中保持稳定,不发生位移或震动。对于反光性较强或透明的样本,可能需要进行适当的表面处理,以优化测量效果。
测量操作
开启设备后,通过操作面板或连接的电脑软件,选择合适的测量模式(共聚焦、干涉 ometry 或 AI 焦点变化)与测量参数(如扫描范围、分辨率等)。将样本放置在测量平台上,启动测量程序,设备将自动进行扫描与数据采集。测量过程中,可实时在显示屏上观察测量进度与初步结果。
数据处理与分析
测量完成后,设备自带的软件可对采集到的数据进行多种处理与分析,如生成 3D 表面模型、计算粗糙度参数、进行尺寸测量等。用户可根据需求导出数据或生成专业的检测报告。使用完毕后,及时关闭设备电源,清理测量平台与样本残留,定期对设备进行清洁与维护,确保设备始终处于良好的工作状态。Sensofar S neox:开启微观世界的精准之眼
