在材料微观特性探究、元件质量把控的科研及工业场景里，表面轮廓测量的精度与效率，直接影响着研究进展与产品品质。布鲁克白光干涉光学轮廓仪，以其精巧设计与实用功能，成为众多专业人士信赖的得力工具。下面为你介绍两款该系列的产品。布鲁克白光干涉仪：轮廓测量新选择
一、ContourX - 500：桌面旗舰，高效精准
产品细节：紧凑设计，操作便捷
ContourX - 500 作为桌面旗舰型号，外观设计紧凑，占用空间小，非常适合实验室空间有限的环境。其操作界面简洁直观，各类控制按钮布局合理，新手也能快速上手。样品台设计，带编码器的样品台可实现精准定位，头部倾斜设计方便从不同角度测量表面特征，减少跟踪误差，确保测量的准确性与可重复性。设备还配备一只 5MP 摄像头，并采用 1200x1000 测量阵列，有效降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率 ，让微小细节无所遁形。
产品性能：技术融合，稳定可靠
这款轮廓仪融合了优良的白光干涉技术与精密光学系统。白光干涉技术通过分析不同波长光干涉产生的条纹，精准识别样品表面微观起伏。在测量过程中，设备运行稳定，受外界环境干扰影响小，保障测量结果的稳定性与一致性。它具备出色的 Z 轴分辨率和准确度，拥有布鲁克落地式白光干涉（WLI）仪器广受认可的优势，可在多种复杂表面上获取高质量测量数据。测量范围灵活，能根据样品需求调整参数，无论是对大面积区域进行快速扫描，还是针对微小局部进行精细测量，都能轻松胜任。
用材讲究：品质选材，经久耐用
布鲁克在 ContourX - 500 的选材上十分用心。核心光学部件采用高品质光学玻璃，具备良好的透光性和低色散特性，减少光线传播中的能量损失与图像畸变，保证测量成像清晰准确。内部机械结构选用高强度、耐磨的金属材料，如传动部件采用优质合金钢，确保长期高频使用下，依然维持精确的运动精度和良好的机械性能，延长设备使用寿命，降低维护成本。设备外壳坚固且抗腐蚀，有效保护内部精密部件，适应多样的使用环境。
参数详情
广泛用途
在半导体工艺的质量保证与质量控制（QA/QC）计量中，ContourX - 500 可精确测量晶圆表面的平整度、刻蚀图案的深度与宽度等参数，助力提升芯片制造质量。在眼科领域，能对隐形眼镜等光学器件的表面形貌进行检测，确保产品符合光学性能标准。对于微机电系统（MEMS）器件的研发表征，该轮廓仪可清晰呈现微小结构的表面特征，为器件性能优化提供关键数据支持。
使用说明
初次使用前，仔细检查设备外观有无损坏，各部件连接是否牢固。将设备放置在平稳、无振动的工作台上，确保工作环境温度、湿度适宜，避免环境因素影响测量精度。连接电源及相关配件后，按照说明书进行设备初始化设置。安装样品时，根据样品特性选择合适的固定方式，确保样品稳固且处于正确测量位置。设置测量参数时，依据样品类型、测量目的谨慎选择测量范围、分辨率、扫描模式等。测量过程中，密切关注设备运行状态，若发现图像异常、测量数据波动过大等情况，立即停止测量，排查故障原因，如检查光路是否有遮挡、样品是否发生位移等。测量完成后，及时关闭设备电源，清理样品台，定期对设备进行全面清洁与维护，包括清洁光学部件、润滑机械传动部件等，确保设备始终处于良好工作状态。布鲁克白光干涉仪：轮廓测量新选择
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