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产品简介
Sensofar三维共聚焦白光干涉仪Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。
产品分类
Sensofar三维共聚焦白光干涉仪
Sensofar三维共聚焦白光干涉仪是一款集成了共聚焦、白光干涉和多焦面叠加技术的高精度光学轮廓测量设备，广泛应用于科研、工业和质量控制领域。该设备采用非接触式测量方式，能够实现纳米级表面形貌的高精度测量。
在性能方面，Sensofar设备具备高分辨率和高稳定性，支持多种测量模式，如共聚焦、白光干涉和多焦面叠加，适用于不同表面特性样品的测量。设备支持多种样品台和自动聚焦功能，便于灵活调整测量参数。
Sensofar设备的光学系统采用高线性电容传感器和闭环反馈压电陶瓷，确保测量的稳定性和重复性。设备支持多种物镜选择，适用于不同放大倍率和工作距离的需求。
Sensofar设备广泛应用于半导体、精密光学、材料科学、生物医学和工业制造等领域，适用于表面粗糙度、临界尺寸和三维形貌的测量。设备操作简便，支持多种软件分析工具，便于用户快速完成测量和分析。
Sensofar三维共聚焦白光干涉仪是一款高性能、高精度的光学测量设备，适用于多种复杂表面的高精度测量需求。Sensofar三维共聚焦白光干涉仪