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三维光学轮廓仪
BEUKER白光干涉光学轮廓仪
布鲁克白光干涉光学轮廓仪工作原理简述
布鲁克白光干涉光学轮廓仪工作原理简述布鲁克白光干涉仪的应用范围覆盖了从前沿科学研究到工业化生产的多个环节。
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白光干涉光学轮廓仪是一种非接触式的表面三维形貌测量工具。布鲁克公司的该系列产品,通过捕捉由参考镜和样品表面反射的光线所产生的干涉现象,来解析样品的微观高度信息。布鲁克白光干涉光学轮廓仪工作原理简述
其核心光学系统采用LED白光光源,发光稳定且寿命较长。精密的分光镜组与高性能物镜协同工作,确保了清晰的干涉条纹。仪器主体框架常使用金属材料,并集成主动隔震设计,有助于减弱环境振动对测量的干扰,保障了设备在多种条件下的稳定表现。
这类仪器能适应从光滑到粗糙的不同表面。其垂直方向的测量能力可以达到纳米尺度,用于分辨微小的表面起伏。横向分辨能力则与所选物镜的放大倍数相关联。凭借优化的硬件与算法,单次三维测量可以在较短时间内完成,方便进行重复性统计测量。
典型型号: ContourX-500
主要用途: 应用于半导体、材料科学、精密光学及微机电系统(MEMS)等领域,进行表面粗糙度、台阶高度、几何轮廓等参数的测量与分析。
使用简介: 通过计算机软件进行操作。放置样品后,选取合适的物镜,在软件界面中调整光路和扫描参数,即可启动自动测量并生成三维数据。
基础参数示例:
垂直分辨率: 优于0.1 nm
最大垂直量程: 5 mm
标配物镜: 5X, 10X, 20X, 50X
样品台行程: 100 x 100 mm
软件是其价值的核心体现。测量完成后,软件提供丰富的分析工具:
三维形貌视图: 以直观的三维图像展示表面起伏。
二维轮廓提取: 可在任意位置截取截面线,进行台阶高度、角度等尺寸量测。
粗糙度分析: 依据国际标准(如ISO 25178),计算Sa, Sq, Sz等一系列粗糙度参数。
体积分析: 用于分析磨损、腐蚀或材料的体积损失。
统计与报表生成: 可对多次测量结果进行统计分析,并一键生成定制化的检测报告。
这些功能将原始的干涉数据转化为有价值的量化信息,为工艺改进和质量控制提供直接依据。布鲁克白光干涉光学轮廓仪工作原理简述