Sensofar 的三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪，以其设计理念与技术整合能力，为科研实验室和工业生产线提供了稳定的微观测量支持，XPLore 型号便是其中的典型代表。Sensofar轮廓仪开启微观测量新旅程
该型号的样品台配备高精度微调装置，微调精度可达微米级，操作人员可通过旋钮轻松调整样品的 X、Y 轴位置与倾斜角度，满足不同样品的定位需求。对于需要多区域测量的样品，无需频繁拆装，仅通过样品台调节即可完成多个测量点的切换，大幅减少了操作时间。在技术原理上，共聚焦技术通过针孔滤波消除虚焦光线，使焦平面上的图像对比度显著提升，再结合垂直扫描机制，逐点找出每个像素对应的高度信息，最终构建出三维形貌。干涉技术则利用光束分光后分别照射样品和参考镜片，反射光束形成的干涉条纹蕴含着表面高度信息，通过对条纹的分析与解码，可转化为精确的高度数据。
内部电子元件选用低噪声型号，从数据采集的传感器到信号处理的电路模块，都经过严格筛选与调试，确保在长时间测量过程中数据输出的稳定性，减少因电子噪声导致的测量波动。这一特性让设备在连续监测同一区域的动态变化时，能提供更可靠的对比数据。
该轮廓仪的适用范围广泛：在半导体领域，可用于芯片表面的缺陷检测与线宽测量；生物医药领域，能观察细胞与生物材料的界面形貌；材料测试中，可分析涂层的厚度均匀性与结合状态。其对弱反光表面（如陶瓷烧结体）、多层结构（如电路板的镀层与基底）或多种材质复合表面（如塑料与金属的连接部）的测量能力，让真实的三维形貌得以完整还原，为研发改进与质量控制提供扎实数据。Sensofar轮廓仪开启微观测量新旅程
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