Sensofar轮廓仪微观世界的多面探索者

产品简介

Sensofar轮廓仪微观世界的多面探索者
在材料研究、半导体制造等领域，对微观世界的精确观测是推动技术发展的重要基础。

产品型号：S neox

更新时间：2025-08-22

厂商性质：代理商

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三维光学轮廓仪

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在材料研究、半导体制造等领域，对微观世界的精确观测是推动技术发展的重要基础。Sensofar 三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪中的 S neox 型号，凭借其融合共聚焦、干涉和多焦面叠加的复合技术，在各类表面测量场景中展现出优势。Sensofar轮廓仪微观世界的多面探索者

共聚焦技术部分，其横向分辨率可达 0.10um，这一性能让临界尺寸测量变得更为可靠。例如在测量光滑表面时，能应对斜率达 70° 的工况，而面对粗糙表面，斜率适应能力可提升至 86°，无论是精密零件的微小凹槽还是复合材料的复杂纹理，都能清晰捕捉。干涉技术则包含相位差干涉和白光干涉两种模式：相位差干涉专注于光滑表面的高度形貌测量，亚纳米级的精度在不同放大倍数下均能保持稳定，即便是纳米级的台阶高度差异也能被识别；白光干涉则以纳米级测量精度适用于更多样化的表面类型，从光学镜片的抛光面到金属工件的切削面，都能提供准确的高度数据。多焦面叠加技术专为粗糙表面设计，不仅测量速度较快，且对大斜率表面的适应能力可达 86°，解决了传统光学测量在粗糙表面易出现的信息丢失问题。

设备的核心光学元件选用高透光率的优质光学材料，配合精密镀膜工艺，减少光线反射与散射，确保成像清晰度。机械结构采用轻质高强度合金，在保证整体稳定性的同时，降低了设备搬运与安装的难度。在应用方面，它可对金属、非金属、复合材料等多种材料表面进行二维和三维观察测量，尤其在亚纳米级粗糙度分析中表现突出。配套的分析软件支持三维视图的多角度观察，能自动测量表面结构的高度、宽度、粗糙度等参数，并生成包含数据图表与三维图像的详细报告，为后续分析与决策提供直观依据。Sensofar轮廓仪微观世界的多面探索者

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